[发明专利]分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法

权利要求书

1.一种分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，依次包括以下步骤：

（1）制备载体；

（2）制备标样及试样；

（3）按一定称样比，称取标样或试样和载体，一起混合磨匀；

（4）确定电极材质与形状并加工成型；

（5）确定直流电弧工作条件，阳极激发，直读光谱一次测定钽及钽基化合物中三十种杂质元素——铁、铝、硅、锰、镁、镍、钛、钒、钴、铅、铋、锡、锆、锑、铜、钙、铬、铌、钼、钇、镓、钡、铟、银、砷、铼、锌、铪、镉、碲的量。

2.如权利要求1所述的分析检测纯钽中三十种杂质元素的方法，其特征在于：所述载体由质量百分比为94%、Fsss粒度为6.5～7.5μm的光谱纯碳粉和6.0%的氟化钠组成。

3.如权利要求1所述的分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，其特征在于：所述称样比为2:1。

4.如权利要求1所述的分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，其特征在于：所述电极材质为光谱纯石墨；上电极为外径6mm、长40～50mm的圆锥形且端面直径2mm；下电极为外径6mm、长40～50mm且带直径3.5mm、深8mm盲孔的圆柱形。

5.如权利要求1所述的分析检测钽及钽基化合物中三十种杂质元素的方法，其特征在于：所述直流电弧全谱直读工作电流为15A，积分时间为55s，电极间距为4mm。