[发明专利]适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪

权利要求书

1.一种适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，包括依照待测脉冲传播路径排列而成的分束镜、平面光栅、第一凹面反射镜、双缝挡板、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、直角反射镜、可将脉冲偏振方向旋转90度的潜望镜、中间设有小孔的第四反射镜、二类匹配和频晶体、空间过滤器、光栅光谱仪；所述平面光栅、第一反射镜、第二反射镜到第一凹面反射镜的距离均等于第一凹面反射镜的焦距；其中，待测脉冲的传播路径分两路进行：

第一路由分束镜透射进入平面光栅，经平面光栅、第一凹面反射镜反射进入双缝档板，通过双缝档板形成两个频率有差别的准单色光谱成分，一个准单色光谱成分经第一反射镜、另一个准单色光谱成分经第二反射镜后，再经第一凹面反射镜和平面光栅反射至原入射光束的上方，合成两个不同高度的准单色长脉冲，两个不同高度的准单色长脉冲经过第三反射镜、第四反射镜的非小孔区域进入二类匹配和频晶体；

第二路由分束镜反射，再经直角反射镜、再经过可将脉冲偏振方向旋转90度的潜望镜，然后穿过第四反射镜中间的小孔进入二类匹配和频晶体上，第二路光束在二类匹配和频晶体上的入射位置、入射时间和两个不同高度的准单色长脉冲的入射位置、入射时间相同；

在二类匹配和频晶体上待测脉冲同时与两个准单色长脉冲发生和频作用，生成两个光谱分布相互错开的和频脉冲；

从二类匹配和频晶体出射的光束经过空间过滤器将三个基频脉冲挡住而让两个和频脉冲通过，两个和频脉冲通过空间过滤器后入射至光栅光谱仪。

2.根据权利要求1所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，所述双缝挡板为一薄金属板，所述薄金属板上设置有一条长细狭缝和一组短细狭缝，待测脉冲入射至双缝挡板时选取长细狭缝和任意一条短细狭缝通过，获得两个频率有差别的准单色光谱成分。

3.根据权利要求2所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，一组短细狭缝中的所有短细狭缝的宽度相等，各短细狭缝与长细狭缝之间的水平间距和垂直间距依次递增。

4.根据权利要求1所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，还包括第二凹面反射镜和第五反射镜，待测脉冲和两个准单色长脉冲经过第四反射镜后还分别通过第二凹面反射镜的聚焦和第五反射镜的反射再进入二类匹配和频晶体中。

5.根据权利要求4所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，还包括第三凹面反射镜、第六反射镜和第七反射镜，两个和频脉冲经过空间过滤器后还经过第三凹面反射镜聚焦后再经第六反射镜和第七反射镜的反射，最终进入光栅光谱仪。

6.根据权利要求1所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，所述光栅光谱仪内置有面阵CCD相机。

7.根据权利要求1至6任一项所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，所述双缝挡板安装在精密平移台上。

8.根据权利要求1至6任一项所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，第一反射镜安装在精密平移台上。

9.根据权利要求1至6任一项所述的适用于测量整形脉冲的光谱剪切干涉仪，其特征在于，直角反射镜安装在精密平移台上。