[发明专利]多姿态大口径平面光学元件面形检测装置和方法有效

专利信息
申请号: 201310183511.7 申请日: 2013-05-17
公开(公告)号: CN103245303A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 郑万国;袁晓东;熊召;徐旭;范勇;陈念年;刘长春;叶海仙;曹庭分;易聪之 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心;西南科技大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 621900 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 多姿 口径 平面 光学 元件 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种多姿态大口径平面光学元件面形检测装置,其特征在于,包括光学系统(1)、三维精密运动平台(2)和面形检测控制与处理系统(3);三维精密运动平台(2)包括垂直运动导轨(4)、水平运动导轨(5)和旋转运动平台(6);三维精密运动平台(2)用于实现对不同姿态下光学元件的面形测量过程中的二维扫描运动;面形检测控制与处理系统(3)实现对三维精密运动平台(2)的运动控制、光学系统(1)的姿态调整、光斑信息采集、面形重构、面形绘制功能;光学系统(1)包括光学头(8)、楔镜组(9)和固定在光学头(8)末端的潜望镜(10);光学头(8)产生一束高质量的平行光束并获取从被测元件反射回的光束的像,从光学头(8)出来的一束平行光通过楔镜组(9)后,分为2×2束平行光束,经过潜望镜(10)后入射到光学元件表面,反射后进入CCD相机(16)成像形成2×2个光斑;通过高精密运动平台做二维扫描控制,利用检测图像中激光光斑在水平方向和垂直方向上的位移,重构出被测元件表面的面形分布。

2.权利要求1所述的面形检测装置,其特征在于,所述光学头(8)包括激光器(11)、自准直器(12)、分光镜(13)、扩束筒(14)、透镜(15)和CCD相机(16),由激光器(11)产生的点光源通过自准直器(12)产生一束平行光,经过分光镜(13)和扩束筒(14)后,形成扩束后的平行光入射到被测元件表面,反射后的平行光经过扩束筒(14)和分光镜(13)后,再经过透镜(15)和CCD相机(16)形成反射后光束的像。

3.权利要求1所述的面形检测装置,其特征在于,所述楔镜组(9)包括2片楔形镜片,2片楔形镜片呈L型放置。

4.权利要求1所述的面形检测装置,其特征在于,所述潜望镜(10)包括第一反射镜(17)、第二反射镜(18)和二维快速偏转平台(19),二维快速偏转平台(19)实现第二反射镜(18)的二维快速倾斜功能。

5.权利要求1至4任一所述的面形检测装置进行面形检测的方法,其特征在于,包括以下流程:

(1)将所述的面形检测装置和被测平面光学元件相对而置,调节微动机械调整机构,使被测平面光学元件被测表面与面形检测装置的垂直运动导轨(4)和水平导轨(5)组成的平面平行;对于与垂直运动导轨(4)和水平导轨(5)组成的平面成夹角的被测平面光学元件,通过动力机构及其控制系统驱动旋转光学头(8),使被测平面光学元件与面形检测装置平行;

(2)开启激光器(11)的电源,光学头(8)产生的平行光,经过楔镜组(9)、潜望镜(10)到被测平面光学元件,再返回到光学头(8),经分光镜(13)进入CCD相机(16)汇聚成2x2个激光光斑;

(3)设定被测平面光学元件的尺寸、垂直运动导轨(4)和水平运动导轨(5)的运动步长、运动的起始坐标原点、光学头姿态自动校正精度;

(4)激光器(11)预热30分钟后,动力机构驱动光学头(8)对被测平面光学元件采用从左到右,从上到下方式进行二维扫描;针对每个测量点,通过二维快速偏转平台(19),系统判断反射回的左上角光斑与上一个测量点是否处于同一位置,若为同一位置,则光学系统姿态调整结束;

(5)面形检测控制与处理系统(3)采集通过被测元件反射回CCD相机(16)形成的光斑,对图像进行处理获取光斑的质心位置,通过常规面形重构算法重构出被测平面光学元件的面形分布。

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