[发明专利]一种发光二极管结温的测量方法

权利要求书

1.一种发光二极管结温测量方法，其特征在于包括以下步骤：

1）结温测量装置搭建：结温测量装置包括温控夹具、数字电源表、计算机和温度控制源表；温控夹具夹持待测发光二极管，数字电源表电源两极接待测发光二极管，数字电源表与计算机电连接，计算机与温度控制源表电连接，温度控制源表所配套的温度传感器和加热板均安装于温控夹具上；

2）由温度控制源表设定一组温度值，设定的一组温度值至少包含2个不同的温度值，该组温度值低于待测发光二极管芯片的失效温度，同时由数字电源表设定电压值，该电压值低于待测发光二极管的启动电压；

3）按所设定的一组温度值和所设定的电压值，分别测量得到不同温度值下的发光二极管的一组正向电流值；

4）通过步骤3）所测得的一组正向电流，先画出电流对数与温度倒数的关系图，然后通过下述公式（1）进行直线拟合，

ln(I)=λ1+λ2T---(1)]]>

得到λ₁和λ₂系数；式（1）中，ln(I)表示电流对数；T表示温度；λ₁为截距，表示拟合线上温度趋于无穷时的电流对数值；λ₂为斜率，表示电流对数与温度倒数的感应系数；

5）调节数字电源表的输出电压，使发光二极管正常发光，然后停止发光二极管发光；接着数字电源表按步骤2）所设定的电压值输出正向电压，立即连续测量并记录发光二极管的电流值，连续测量的时间直至电流值不变为止，再根据式（1）计算得到与各个电流值对应的结温值；

6）将步骤5）所得到的与各个电流值应的结温值，通过下述结温与时间关系式（2）：

T(t)=Tc+Σi=0nAiexp(-tτi)---(2)]]>

进行拟合，得到结温拟合曲线图；通过该图即可得到不同时间点对应发光二极管工作状态下结温值；式（2）中，T(t)表示随时间t变化的结温值；T_c表示热沉温度；τ_i为半导体材料热容热阻的时间常数；A_i为与τ_i对应的结构部分达到稳态后对整体温差的贡献值；n为LED时间常数τ的个数。

2.如权利要求1所述的一种发光二极管结温测量方法，其特征在于在步骤1）中，所述温度传感器为电阻温度传感器。

3.如权利要求1所述的一种发光二极管结温测量方法，其特征在于在步骤1）中，所述加热板为贝底埃加热板。