[发明专利]一种防止芯片凸点短路的封装件及其制造工艺在审

专利信息
申请号: 201310181835.7 申请日: 2013-05-16
公开(公告)号: CN103311205A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 王虎;朱文辉;谌世广;钟环清;刘卫东 申请(专利权)人: 华天科技(西安)有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L21/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710018 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 防止 芯片 短路 封装 及其 制造 工艺
【权利要求书】:

1.一种防止芯片凸点短路的封装件,其特征在于:所述封装件主要包括铜线路(1)、环状铜柱(2),铜柱(3)、铜板(4)、芯片凸点(5)、芯片(6)、溶化后的芯片凸点(7)、塑封体(8)、背面蚀刻后余留铜柱(9)、绿油层(10)、锡球(11);所述铜板(4)上有铜线路(1)、环状铜柱(2)和铜柱(3),所述环状铜柱(2)内粘接有溶化后的芯片凸点(7),芯片凸点(7)上有芯片(6),铜板(4)背面蚀刻后为余留铜柱(9),铜板(4)背面有绿油层(10),锡球(11)在背面蚀刻后余留铜柱(9)上;所述的塑封体(8)包围了铜板(4)的上表面、铜线路(1)、环状铜柱(2)、铜柱(3)、芯片(6),形成了电路整体;芯片(6)及其上的芯片凸点(5)、环状铜柱(2)、以及背面蚀刻后余留铜柱(9)构成了电源和信号通道。

2.一种防止芯片凸点短路的封装件的制作工艺,其特征在于:按照以下步骤进行:

(1)、晶圆减薄:晶圆减薄先粗磨后精磨,从原始晶圆片厚度减薄到最终厚度,精磨速度:10μm/s-20μm/s,采用防止碎片工艺;

(2)、晶圆划片:150μm以上晶圆同普通划片工艺,但厚度在150μm以下晶圆,使用双刀划片机及其工艺;

(3)、倒装上芯,回流和清洗:把芯片(6)倒装在铜板(4)上,芯片凸点(5)与对应的环状铜柱(2)内的铜面结合,在回流焊的作用下形成有效焊接结;

(4)、塑封和后固化:将倒装上芯好的芯片(6)进行塑封,并进行后固化;塑封后由于材料热膨胀系数之间的差异,导致框架与塑封体因应力作用有少许翘曲,解决办法是框架被塑封后,用大约1公斤的盖板先将其压住,然后送往烘箱,用175℃/240min的参数对产品进行后固化,使材料应力得到释放,将框架翘曲降到最低,同时也减小材料之间的分层;

(5)、引脚分离、框架腐蚀:将铜板(4)背面通过化学药水进行腐蚀;

(6)、填充绿漆、保护背面电路:将铜板(4)背面通过丝网印刷进行绿油覆盖,形成绿油层(10);

(7)、植球:在背面蚀刻后余留铜柱(9)上钢网印刷0.12㎜厚度的锡膏,然后在255℃的温度下回流,形成直径0.25㎜,高度0.20㎜的锡球(11)。

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