[发明专利]一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置及其方法有效
申请号: | 201310180901.9 | 申请日: | 2013-05-15 |
公开(公告)号: | CN103293113A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 丁永前;朱艳;曹卫星;李杨;王致情;谭星祥;徐志刚 | 申请(专利权)人: | 南京农业大学 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 夏平 |
地址: | 211225 江苏省南京市溧*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 主动 光源 作物 反射 光谱 测量 装置 及其 方法 | ||
1.一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是它包括光路系统安装基座(9)、LED安装定位器(4)、柱面镜安装架(7)和柱面镜(6)构成的光路发射单元,以及至少一组由光谱检测光路安装孔(1)、平凸透镜(5)、滤光片(10)和光电敏感器件(11)构成的光路检测单元,其中滤光片(10)的类型与LED发光阵列(12)的波长匹配;所述的光路系统安装基座(9)上设置有平行的光谱检测光路安装孔(1)和光带整形槽(2),平凸透镜(5)安装在光谱检测光路安装孔(1)内,LED安装定位器(4)设置在光路系统安装基座(9)背面的定位器安装槽(3)上,该LED安装定位器(4)为板状结构,内置若干个用于安装LED发光阵列(12)的LED安装孔(4),柱面镜安装架(7)嵌入设置在光路系统基座(9)正面的光带整形槽(2)的下方槽内,柱面镜(6)设置在柱面镜安装架(7)上;所述的光谱检测光路安装孔(1)内平凸透镜(5)的后端依次设置滤光片(10)和光电敏感器件(11),所述的光电敏感器件(11)输出电压信号供给后级处理设备。
2.根据权利要求1所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是所述的光路系统安装基座(9)和光带整形槽(2)之间夹装调节垫片(8),通过夹装不同厚度的调节垫片(8)能够调节光路系统的结构参数。
3.根据权利要求1所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是所述LED安装孔(4)为具有一定倾角的斜孔;LED发光阵列(12)通过LED安装孔(4)安装在光路系统安装基座(9)上。
4.根据权利要求1所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是所述光路检测单元为两组,能够接收对应的波长LED发光阵列(12)的光信号;各组光路检测单元的滤光片(10)与对应LED发光阵列(12)的波长匹配。
5.根据权利要求1所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是所述光电敏感器件(11)为光电池。
6.一种主动光源式作物冠层反射光谱测量方法,应用权利要求1所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置,其特征是它包括计算冠层反射率Rλ的步骤;
(A-1)、按照权利要求1所述的装置安装光路发射和检测单元,测量安装基座(9)与作物冠层的高度H,安装波长为λ的LED发光阵列(12),采用光路检测单元获取对冠层反射光的响应值即光电敏感器件(11)输出的电压信号,经过I/V转换和滤波处理后,得到LED发光阵列(12)对冠层照射的反射光响应电压值Lcλ-H;
(A-2)、将作物替换为标准白板,采用步骤(A-1)的光路检测单元获取对标准白板反射的响应值,即光电敏感器件(11)输出信号经过I/V转换和滤波处理后的电压值LWλ-H;
(A-3)、采用下述公式求取作物冠层反射率Rλ,
7.根据权利要求6所述的一种主动光源式作物冠层反射光谱测量方法,其特征是它还包括计算比值型光谱指数的步骤:
(B-1)、按照权利要求1所述的装置安装光路发射和检测单元,测量安装基座(9)与作物冠层的高度H,安装两种波长的LED发光阵列(12),波长分别为λ1和λ2,分别开启波长为λ1和λ2的发光阵列,采用两组光路检测单元分两次进行检测,获取对应波长为λ1和λ2的两检测通道对冠层反射光的响应值即两光电敏感器件(11)输出的电压信号,分别经过I/V转换和滤波处理后,得到电压值和;
(B-2)、将作物替换为标准白板,采用步骤(B-1)的光路检测单元获取对标准白板反射的响应值,即两光电敏感器件(11)输出信号经过I/V转换和滤波处理后的电压值和;
(B-3)、计算标准白板光谱响应比值系数该值是一个定值,不随高度H变化而变化;
(B-4)、采用下述公式求取比值型光谱指数归一化植被指数NDVI和比值植被指数RVI:
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