[发明专利]一种单片石英晶体滤波器微调圈制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及的是一种单片石英晶体滤波器微调圈及制作方法，属于石英晶体频率调整设备领域。

背景技术

石英晶体滤波器广泛用于通讯、导航、测量等电子设备，其中的单片晶体滤波器由于结构简单，体积小，价格低，加上频率选择度十分陡峭，损耗低，稳定性能好，阻带衰减高等的特性，成为必不可少的初级中频滤波器，在频率调整工序中，用来承载晶体的微调圈铜管极易损坏，使用寿命仅3个月左右。铜管损坏后交换铜管的成本高，若不交换则导致接触不良，产品合格率低下。现有的晶体滤波器微调圈铜管采用顶部内安装卡环，保证晶体引脚与铜管接触良好。但卡环顶端的平行插口在晶体引脚插入时速度较慢，卡环使用一段时间后容易脱落，晶体引脚外层镀金膜容易刮伤。卡环脱落后晶体引脚插入会与铜管接触不好，所调整出来的产品频率散差大，产品不良率高，效率低，如图2所示。

发明内容

本发明提出的是一种单片石英晶体滤波器微调圈及制作方法，旨在提高微调圈铜管的使用寿命，降低微调圈的维修成本，提高微调合格率。

本发明的技术解决方案：单片石英晶体滤波器微调圈，其结构包括铜管插入口、微调圈实体、接触测试点、铜管凹槽口、绝缘弹性材料做成的皮圈，其中铜管插入口的一侧是微调圈实体，在微调圈实体从顶部向下5～10mm处增开一圈微调圈凹槽，皮圈安装在该微调圈凹槽内，微调圈凹槽的深度至安装铜管通孔的中心处；从铜管顶部往下5～10mm位置处切开一个约五分之三的凹形缺口，铜管凹槽口在铜管上部，插入铜管后的晶体滤波器引脚处于铜管壁与皮圈之间，圆形微调圈底部通孔内安装铜质测试触点，该铜质测试触点与铜管底部焊接在一起。

其制作方法：

1）将铜管顶部插入口加工成“V”字形，在离铜管顶部向下5～10mm位置切开一个五分之三的凹形缺口；

2）在微调圈体从顶部向下5～10mm处增开一圈凹槽，深度至安装铜管通孔的中心处；

3）用绝缘弹性材料做成皮圈，安装在微调圈凹槽内,利用皮圈的弹性使所有晶体引脚与铜管壁充分接触；

这种从整体上解决晶体引脚与铜管电接触的方法，可以提高晶体滤波器引脚插入速度和减少引脚与铜管接触不好现象，提高产品合格率，延长铜管的使用寿命，且不会对晶体引脚镀层造成刮伤。

本发明的优点：本发明技术制造出来的晶体滤波器微调圈，不必象现有方案一样考虑每一根铜管与晶体引脚的电接触，而是从整体上解决了两者之间的接触问题，而且在产品投入时速度快，减少了因引脚与铜管间接触不好而造成的产品不良。铜管的使用寿命可延长至3年以上。产品合格率可以提高10%以上。

附图说明

图1是微调圈示意图。

图2原始微调圈示意图。

图3本发明制作的微调圈示意图。

图中的1是卡环、2是铜管插入口、3是微调圈实体、4是铜管、5是接触测试点、6是铜管凹槽口、7是皮圈。

具体实施方式

对照图3，一种单片石英晶体滤波器微调圈，其结构包括铜管插入口2、微调圈实体3、接触测试点5、铜管凹槽口6、绝缘弹性材料做成的皮圈7，其中铜管插入口2的一侧是微调圈实体3，在微调圈实体3从顶部向下5～10mm处增开一圈微调圈凹槽，皮圈7安装在该微调圈凹槽内，微调圈凹槽的深度至安装铜管通孔的中心处；从铜管顶部往下5～10mm位置处切开一个约五分之三的凹形缺口，铜管凹槽口6在铜管上部，插入铜管后的晶体滤波器引脚处于铜管壁与皮圈之间，圆形微调圈底部通孔内安装铜质测试触点，该铜质测试触点与铜管底部焊接在一起。

实施例

单片石英晶体滤波器微调圈的制作方法，包括如下步骤：

1）用高分子树脂材料制作成圆形微调圈体，上半部内径为290mm，上半部外径为340mm；下半部内径为300mm，下半部外径为315mm，高度为35mm；

2）在圆形微调圈上部内径300mm与下部内径300mm有一圈垂直向下安装铜管的通孔，离微调圈体底部5mm水平方向有一圈安装测试触点的通孔，用于将铜管与测试触点电连接；

3）从微调圈体的顶部向下5～10mm处增开一圈凹槽，深度至安装铜管通孔的中心处；

4）选择外径为1.0mm，内径为0.4mm，长度为33mm的铜管共213条；

5）将铜管顶部晶体引脚插入口加工成“V”字形，方便晶体引脚插入；

6）从离铜管顶部向下5～10mm位置处切开一个五分之三的凹形缺口，插入微调圈垂直向下的通孔中；