[发明专利]大气采样设备有效

专利信息
申请号: 201310177324.8 申请日: 2013-05-14
公开(公告)号: CN103278355A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 范静宏;孔祥云;张伟治;陈益思;张力 申请(专利权)人: 深圳国技仪器有限公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518101 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 大气 采样 设备
【权利要求书】:

1.一种大气采样设备,其特征在于,包括:

用于承载所述大气采样设备的底板;

设置在所述底板上部,并用于冷却吸收瓶的冷却舱,所述冷却舱包括散热体,所述散热体下部连接于所述底板上,且上部与存储舱连接;

用于存储所述吸收瓶,且承载于所述散热体上的存储舱。

2.如权利要求1所述的大气采样设备,其特征在于,所述散热体的上部为一平面结构,下部为一组平行排列的散热鳍片,所述散热鳍片之间形成风道,而所述冷却舱还包括有风机,所述风机正对所述风道。

3.如权利要求2所述的大气采样设备,其特征在于,所述大气采样设备还设置有用于对所述吸收瓶进行制冷的制冷装置。

4.如权利要求3所述的大气采样设备,其特征在于,所述散热鳍片和所述平面结构呈一体结构,且所述散热鳍片承载于所述底板上。

5.如权利要求3所述的大气采样设备,其特征在于,所述存储舱的底部设置有用于放置所述吸收瓶的圆筒,且贯穿所述存储舱的侧壁设置有用于和所述吸收瓶连通的气嘴。

6.如权利要求5所述的大气采样设备,其特征在于,所述制冷装置为半导体制冷片,所述圆筒的底部固定连接到所述平面结构上,且所述平面结构与所述圆筒底部连接处还开设有用于放置半导体制冷片的凹槽及走线槽,所述半导体制冷片的制冷的一面贴紧所述圆筒的底部,而另一面贴紧所述平面结构,与所述半导体制冷片电性连接的导线置于所述走线槽内。

7.如权利要求2所述的大气采样设备,其特征在于,与所述风道平行方向设置有用于包覆所述圆筒和散热体两侧的薄板。

8.如权利要求5所述的大气采样设备,其特征在于,所述圆筒内部设置有与控制电路电性连接的加热装置及温度传感装置。

9.如权利要求5所述的大气采样设备,其特征在于,所述存储舱的舱底设置有用于固定所述吸收瓶的固定装置。

10.如权利要求9所述的大气采样设备,其特征在于,所述存储舱的底部与所述平面结构连接,且所述存储舱与所述平面结构之间还设置有用于对所述吸收瓶进行制冷的所述制冷装置。

11.如权利要求10所述的大气采样设备,其特征在于,所述制冷装置为所述半导体制冷片。

12.如权利要求5所述的大气采样设备,其特征在于,所述大气采样设备的一侧还设置有安装面板,还包括有与所述气嘴连通的装设于所述安装面板上的电磁阀、气泵、制冷控制板及干燥装置。

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