[发明专利]航天器器件位移损伤失效率测算方法

权利要求书

1.一种航天器器件位移损伤失效率测算方法，其特征在于，所述测算方法包括以下步骤：

S1、准备多份待检测的器件样品，并分别检测各器件样品失效时累积的等效10MeV质子注量；

S2、将各器件样品的等效10MeV质子注量输入尺度因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布尺度因子数值；

S3、将对数正态分布尺度因子数值输入形状因子计算模块进行计算，并得到对数正态分布形状因子数值；

S4、将对数正态分布尺度因子数值、对数正态分布形状因子数值和航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预测值输入位移损伤失效率计算模块进行计算，以得到位移损伤失效率；

所述尺度因子计算模块内设置有基于以下数学公式建立的数学计算模型：

$\mathrm{\μ}=\stackrel{\‾}{ln\left(R_{FAIL-DD}\right)}=\frac{1}{n}\underset{i=1}{\overset{n}{\Σ}}ln\left(\right(R_{FAIL-DD-i}\left)\right)$

其中：μ为对数正态分布尺度因子；

n为器件样品数量；

R_FAIL-DD-i为第i个器件样品的等效10MeV质子注量，单位：n/cm²。

2.根据权利要求1所述的航天器器件位移损伤失效率测算方法，其特征在于，所述航天器器件失效时累积的等效10MeV质子注量的预测步骤位于所述步骤S1之前执行，或位于步骤S1至步骤S4之间执行。

3.根据权利要求1所述的航天器器件位移损伤失效率测算方法，其特征在于，所述步骤S4之后还包括步骤S5：

将位移损伤失效率与参考位移损伤失效率进行比较，以此分析判断航天器器件的可靠性。