[发明专利]全息存储装置和参考光入射角度调整方法

权利要求书

1.一种全息存储装置，使参考光与信号光发生干涉，将获得的干涉条纹作为页数据以角度复用的方式记录在全息记录介质上，并对已记录的页数据进行再现，其特征在于，包括：

用于接收所述参考光在所述全息记录介质的表面反射的表面反射光的光检测器；

使所述参考光对所述全息记录介质的入射角度发生变化的角度变化单元；

检测所述表面反射光在所述光检测器上的会聚位置的检测电路；

基于该会聚位置的信息，估算所述参考光对所述全息记录介质的入射角度的入射角度计算电路；

生成所述参考光的估算的入射角度与入射角度目标值之差的角度偏差量生成电路；和

根据该角度偏差量控制所述角度变化单元的控制电路。

2.如权利要求1所述的全息存储装置，其特征在于，还包括：

光量检测单元，至少检测所述参考光在所述全息记录介质的表面反射的表面反射光中的P偏振成分的光量。

3.如权利要求1所述的全息存储装置，其特征在于，还包括：

相位差检测单元，检测所述参考光在所述全息记录介质的表面反射的表面反射光中P偏振成分相对于S偏振成分的相位差。

4.如权利要求1所述的全息存储装置，其特征在于：

所述角度变化单元包括使角度复用方向上的角度发生变化的第一角度变化单元和使与角度复用方向垂直的方向上的角度发生变化的第二角度变化单元。

5.如权利要求1所述的全息存储装置，其特征在于，还包括：

存储区域，保存所述光检测器上所述表面反射光的会聚位置。

6.一种参考光入射角度调整方法，在全息存储装置中调整参考光对全息记录介质的入射角度，其特征在于：

所述全息存储装置使参考光与信号光发生干涉，将获得的干涉条纹作为页数据以角度复用的方式记录在全息记录介质上，并对已记录的页数据进行再现，

所述全息存储装置包括：

用于接收所述参考光在所述全息记录介质的表面反射的表面反射光的光检测器；

使所述参考光对所述全息记录介质的入射角度发生变化的角度变化单元；

检测所述表面反射光在所述光检测器上的会聚位置的检测电路；

基于该会聚位置的信息，估算所述参考光对所述全息记录介质的入射角度的入射角度计算电路；

生成所述参考光的估算的入射角度与入射角度目标值之差的角度偏差量生成电路；和

根据该角度偏差量控制所述角度变化单元的控制电路，

所述参考光入射角度调整方法中，

在基于所述表面反射光的所述会聚位置的信息估算所述参考光的入射角度后，在估算的入射角度与作为目标的入射角度不同的情况下，根据该估算的入射角度与该作为目标的入射角度的差，利用所述角度变化单元来调整所述参考光的入射角度。

7.如权利要求6所述的参考光入射角度调整方法，其特征在于：

所述作为目标的入射角度随复用数而依次变化。

8.如权利要求7所述的参考光入射角度调整方法，其特征在于：

在记录时，在存储区域中存储复用数的数量的所述参考光的表面反射光在所述光检测器上的会聚位置，

在再现时，从所述存储区域读出该会聚位置的信息，调整参考光的入射角度使得所述参考光的表面反射光的会聚位置与该读出的会聚位置一致。