[发明专利]一种磁卡的内部磁场检测系统无效

专利信息
申请号: 201310168799.0 申请日: 2013-05-09
公开(公告)号: CN103246911A 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 朱国辉;刘孝军 申请(专利权)人: 徐州远洋磁性材料有限公司
主分类号: G06K19/07 分类号: G06K19/07;G01R33/00
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 薛伯奇
地址: 221138 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁卡 内部 磁场 检测 系统
【说明书】:

  

技术领域

发明涉及一种磁场检测系统,具体涉及一种磁卡的内部磁场检测系统,属于磁场检测技术领域。 

  

背景技术

目前,随着电子技术的飞速发展,现代电子产品几乎渗透了社会的各个领域,包括磁场检测领域。通常情况下,磁卡的内部磁场检测采用试刷法,但这种方法无法准确判断是磁卡消磁或者磁卡内部芯片损坏。 

因此,为解决上述技术问题,确有必要提供一种新型的磁卡的内部磁场检测系统,以克服现有技术中的所述缺陷。 

  

发明内容

为解决上述问题,本发明的目的在于提供一种检测数据传送率高、检测方便快速的磁卡的内部磁场检测系统。 

为实现上述目的,本发明采取的技术方案为:一种磁卡的内部磁场检测系统,其包括微处理器、高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、LCD显示模块以及语音提示模块;其中,所述高精度磁场传感器、D/A模块、差分电路运算放大模块、微处理器以及LCD显示模块依次连接;所述语音提示模块亦连接于微处理器上。 

本发明的磁卡的内部磁场检测系统进一步设置为:所述LCD显示模块为16寸的LCD显示模块。 

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:本发明的磁卡的内部磁场检测通过微处理器强大控制性,具有检测数据传送率高、检测较方便等优点,可以迅速定量获得检测的信息。 

  

附图说明

图1是本发明的磁卡的内部磁场检测系统的原理图。 

  

具体实施方式

请参阅说明书附图1所示,本发明为一种磁卡的内部磁场检测系统,其由微处理器1、高精度磁场传感器2、D/A(数字/模拟)模块3、差分电路运算放大模块4、LCD显示模块5以及语音提示模块6等几部分组成。 

其中,所述高精度磁场传感器2、D/A模块3、差分电路运算放大模块4、微处理器1以及LCD显示模块5依次连接。所述微处理器1类型为AVR。所述高精度磁场传感器2核心芯片为MMLD47F。所述D/A模块3核心芯片为ADC0809。所述LCD显示模块5为16寸的LCD显示模块5。 

所述语音提示模块6亦连接于微处理器1上。 

本发明的磁卡的内部磁场检测系统的工作原理如下:D/A模块3将高精度磁场传感器2的磁场信号转换成数字信号后,经差分电路运算放大模块4将数字放大后传输给微处理器1,进行数据的进一步定量分析。所述LCD显示模块5用于将定量分析的数据显示出来。所述语音提示模块6用于将微处理器1处理的结果语音播报出来。 

以上的具体实施方式仅为本创作的较佳实施例,并不用以限制本创作,凡在本创作的精神及原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本创作的保护范围之内。 

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