[发明专利]基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器及其制作方法无效
申请号: | 201310163933.8 | 申请日: | 2013-05-07 |
公开(公告)号: | CN103258869A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 矫淑杰;王东博 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/11;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150000 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 氧化锌 材料 紫外 红外 探测器 及其 制作方法 | ||
1.基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述探测器包括衬底(10),在衬底(10)上依次生长的缓冲层(11)、第一n型欧姆电极接触层(12)、红外敏感层、第二n型欧姆电极接触层(16)、紫外敏感层(17),以及设置在紫外敏感层之上的透明电极层(19),在所述第一n型欧姆电极接触层(12)、第二n型欧姆电极接触层(16)和透明电极层(19)上分别设置有底部电极(22)、中间电极(21)和顶部电极(20)。
2. 根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述衬底(10)采用的材料是蓝宝石、氧化锌或氧化镁;缓冲层(11)采用的材料是ZnO,厚度为0.02 μm至0.2 μm。
3.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述红外敏感层为由相互交替生长的第一本征层(13)与重掺杂n型层(14)构成的多周期层(15),其周期数为m,m在1~30之间;第一本征层(13)生长在第一n型欧姆接触层(12)上,禁带宽度为 ,材料为非故意掺杂的ZnyMg1-yO,电子载流子浓度为至,厚度为0.02至0.4 μm;重掺杂n型层(14)生长在第一本征层(13)上,禁带宽度为,且,采用的材料为ZnO或ZnxMg1-xO (x>y),n型掺杂浓度浓度为至,厚度为0.02至0.4 μm。
4.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述第一n型欧姆电极接触层(12)采用的材料是ZnO,厚度在0.5 μm至1 μm之间,掺杂浓度n在至,掺入的杂质为Al或Ga;第二n型欧姆电极接触层(16)采用的材料为ZnO,n型掺杂浓度为至,厚度在0.1至 0.6 μm之间。
5.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述紫外敏感层(17)为禁带宽度为的第二本征层,且;采用的材料为ZnO或ZnMgO,电子载流子浓度n为至,厚度在0.2至 0.6 μm之间。
6.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述透明电极层(19)为Ni/Au或Pt/Au层,厚度分别为2~5nm/2~5nm。
7.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于所述顶部电极(20)Ni/Au/Ti/Au电极;中间电极(21)和底部电极(22)为Ti/Al/Ti/Au电极。
8.根据权利要求1所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器,其特征在于当紫外探测区域采用p-i-n结构时,所述探测器还包括P型层(18),P型层(18)生长在紫外敏感层(17)之上,透明电极层(19)设置在P型层(18)之上;P型层(18)采用的材料是ZnO或ZnMgO,厚度分别为0.02~0.2 μm,p型掺杂浓度在至。
9.一种权利要求1-7所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器的制作方法,其特征在于所述方法包括如下步骤:
步骤1:在衬底(10)上依次生长缓冲层(11)、第一n型欧姆电极接触层(12)、红外敏感层、第二n型欧姆电极接触层(16)、紫外敏感层(17);
步骤2:经第一次光刻工艺和干法刻蚀露出部分第二n型欧姆接触层(16);再经过第二次光刻工艺和干法刻蚀露出部分第一n型欧姆接触层(12);
步骤3:经第三次光刻工艺在紫外敏感层(17)上形成透明金属窗口,用电子束镀膜设备或溅射设备依次淀积薄层金属,经退火后形成透明电极层(19);
步骤4:经第四次光刻工艺在透明电极层(19)上形成透明电极窗口,用电子束镀膜设备或溅射设备在透明电极层(19)上淀积金属,形成双色探测器的顶部电极(20);
步骤5:经第五次光刻工艺形成第一n型欧姆接触层窗口、第二n型欧姆接触层窗口,在步骤2和3中刻蚀露出的第二n型欧姆接触层(16)和第一n型欧姆接触层(12)上, 用电子束镀膜设备或溅射设备淀积金属,形成双色探测器的中间电极(21)和底部电极(22)。
10.根据权利要求9所述的基于氧化锌材料的紫外红外双色探测器的制作方法,其特征在于所述步骤(1)中,当紫外探测采用p-i-n结构时,接着在第二本征层(17)上生长一层p型层(18);P型层(18)采用的材料是ZnO或ZnMgO,厚度为0.02~0.2 μm,p型掺杂浓度在至。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的