[发明专利]一种终端天线TRP快速测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及移动通信终端，尤其涉及一种终端天线TRP快速测试方法。

背景技术

目前，在手机这种无线终端射频性能测试中越来越关注整机辐射性能测试，这种辐射性能反映了手机最终的发射和接收性能，现有技术主要有两种方法对手机的辐射性能进行考察，一种是从天线的辐射性能进行判定，是较为传统的天线测试方法，成为无源测试，另一种是在特定微波暗室内，测试手机的辐射功率和接收灵敏度，称为有源测试，OTA（Over The Air）测试属于有源测试，现有技术OTA暗室测试系统测试天线辐射性能的基本工作流程如下：

1、将终端放置在暗室转台上，并通过天线连接上基站仿真器，基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给终端，终端的接收系统将接收这些发射信号并解码；

2、将转台上的终端依次运动到不同的转台Theta角度和Phi角度，同时测试的测量天线极化方向在每个角度也会相应调整。在每个Theta、Phi角度上都需要调整两次测量天线极化位置（水平和垂直极化位置）。终端天线测试系统正常需要测试转台Theta角度从0到180度，每30度为1步长共6步，Phi角度从0到360度，每30度为1步长，共12步。此外OTA暗室使用水平和垂直两种极化方向作为暗室测量天线，因此测试的总点数为6×12×2=144点。

3、在每个测试点，测试系统调用基站仿真器或者频谱分析仪测量终端发射功率，测得的功率即为ERP（Effective Radiated Power，等效辐射功率）。这里在每个测试点，会测试所有的待测试信道的功率，因此每个测试点的测试时长为：

4、在获得每个测试点的ERP以后，将ERP补偿上暗室的路径损耗（Path Loss，在固定频点和暗室测量天线极化方向上，为一个固定偏差值），进行积分计算，可以获得最终的天线TRP（Total Radiated Power，总辐射功率）。

计算公式如下：

  

其中，N指的是转台Theta角度（θ）方向的测试点数，采用30°一步长，N=6，M指的是转台Phi角度（Φ）方向的测试点数，采用30°一步长，M=12。

可见，现有技术OTA暗室测试系统测试终端TRP的计算比较复杂，所花费的测试时间较多，增加了测试的成本。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明为解决现有技术的缺陷和不足，提出一种缩短OTA暗室测试系统测试终端天线辐射性能时间，提高测试效率的天线TRP快速测试方法。

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下： 

一种终端天线TRP快速测试方法，用于OTA暗室测试中测试终端天线辐射性能，包括如下步骤：

A、将终端放置在暗室转台上，通过天线连接基站仿真器，基站仿真器的发射信号通过暗室测量天线发送给终端，终端的接收系统接收所述基站仿真器的发射信号并解码，基站仿真器的工作信道设为任意一个待测信道；

B、将终端依次转动到不同的转台Theta角度和Phi角度，每个Theta角度和Phi角度上均对应调整天线极化方向，以每个Theta角度和Phi角度不同的天线极化方向作为一个测试点，测试每个测试点在某一信道的功率得到相应的测试点的ERP；

C、将所有测试点的ERP组成终端天线的发射功率强度方向图并保存；

D、根据所述终端天线的发射功率强度方向图查找最好的Theta角度和Phi角度下的天线极化方向，并将暗室转台转到该Theta角度和Phi角度下的天线极化方向测量所有待测信道的ERP，然后将该ERP补偿上暗室的路径损耗作为最好Theta角度和Phi角度下的天线极化方向待测信道的ERP，表达为；

E、各个待测信道的每个Theta角度和Phi角度的ERP表达为，根据公式计算得出，其中是所述发射功率强度方向图中待测信道在最好测试点上的发射功率，是所述发射功率强度方向图的待测信道在当前转台Theta角度和Phi角度下天线极化方向的ERP，将所有根据公式进行积分计算获得终端天线的TRP，其中N是转台Theta角度的测试点数，M是转台Phi角度的测试点数，θ、Φ分别为Theta角度和Phi角度。

作为进一步改进方案，所述步骤A中基站工作信道设置为所有待测信道的中间值。

所述步骤B中天线极化方向包括天线水平极化方向和垂直极化方向。