[发明专利]一种非极性阻变存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310145858.2 申请日: 2013-04-25
公开(公告)号: CN103236498A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 许积文;王华;周尚菊;杨玲;丘伟;张玉佩 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24;G11C11/56
代理公司: 桂林市华杰专利商标事务所有限责任公司 45112 代理人: 滕杰锋
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 极性 存储器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种非极性阻变存储器,包括从下至上叠接的导电衬底兼下电极,阻变存储介质及在存储介质上的金属上电极三层结构,其特征在于,所述阻变存储器同时具备双极性和单极性的阻变行为,即非极性存储行为,阻变存储介质为ZnMn2O4及其掺杂物。

2.根据权利要求1所述的存储器,其特征是:所述的导电衬底材料为p+型硅片衬底,p+型硅片同时也作为存储器的下电极。

3.根据权利要求1所述的存储器,其特征是:所述的阻变存储介质材料为ZnMn2O4及其掺杂物,掺杂元素包括Y、Sc、Mg、Si、Sn和In,其形态为薄膜,厚度为20nm到1200nm。

4.根据权利要求1所述的存储器,其特征在是:上电极为金属,存储器为金属/绝缘体/半导体的MIS结构。

5.一种非极性阻变存储器的制备方法,其特征是:包括如下步骤:

(1)用RCA标准清洗工艺清洗硅片衬底,并进行烘干处理;

(2)采用化学溶液沉积工艺在下电极上制备ZnMn2O4及其掺杂物阻变介质薄膜;薄膜用快速热处理工艺,涂覆次数为1到14次,薄膜的退火温度高于620℃,退火时间1~4h;

(3)在ZnMn2O4及其掺杂物阻变介质薄膜上,采用蒸镀工艺制备金属电极,本底真空优于4.0×10-4Pa;使用金属掩膜版,圆孔的直径为500μm到30μm。

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