[发明专利]11.4~12.5μm透过长波红外滤光片及制备方法有效
申请号: | 201310145618.2 | 申请日: | 2013-04-25 |
公开(公告)号: | CN103257385A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 董茂进;王多书;熊玉卿;张玲;王济洲;李晨;王超;高欢 | 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
主分类号: | G02B5/20 | 分类号: | G02B5/20;G02B1/10;B32B9/04;C23C14/06;C23C14/26 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 杨志兵;郭德忠 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 11.4 12.5 透过 长波 红外 滤光 制备 方法 | ||
1.一种14~12.5μm透过长波红外滤光片,其特征在于:所述滤光片包括锗基底、基底一侧的长波通膜系和基底另一侧的短波通膜系;
长波通膜系包括交替叠加的硫化锌和碲化铅膜层,结构为:(0.5hl0.5h)^9(0.574l1.148h0.574l)^5(0.36h0.72l0.36h)^5,中心波长为8100nm;h为碲化铅膜层,0.5h表示碲化铅膜层厚度为0.5个基本厚度,1.148h表示碲化铅膜层厚度为1.148个基本厚度,0.36h表示碲化铅膜层厚度为0.36个基本厚度,l为硫化锌膜层,表示硫化锌膜层厚度为1个基本厚度,0.574l表示硫化锌膜层厚度为0.574个基本厚度,0.72l表示硫化锌膜层厚度为0.72个基本厚度,所述基本厚度为光学厚度中心波长的四分之一,基本膜堆(0.5hl0.5h)的周期数为9,基本膜堆(0.574l1.148h0.574l)和基本膜堆(0.36h0.72l0.36h)的周期数均为5;
短波通膜系包括交替叠加的硫化锌和碲化铅膜层,结构为:(lh)^8,中心波长为16200nm;l为硫化锌膜层,表示硫化锌膜层厚度为1个基本厚度,h为碲化铅膜层,表示碲化铅膜层厚度为1个基本厚度,所述基本厚度为光学厚度中心波长的四分之一,基本膜堆(lh)的周期数为8。
2.根据权利要求1所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片,其特征在于:基底长29.5mm,宽1.64mm,厚1.2mm;表面光洁度为40/20。
3.根据权利要求1或2所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片,其特征在于:长波通膜系如表1所示,层数为1的膜层为长波通膜系的最外层,层数为39的膜层沉积在基底上,为长波通膜系的最内层;
表1长波通膜系
。
4.根据权利要求1或2所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片,其特征在于:短波通膜系如表2所示,层数为1的膜层为短波通膜系的最外层,层数为16的膜层沉积在基底上,为短波通膜系的最内层;
表2短波通膜系
。
5.根据权利要求4所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片,其特征在于:长波通膜系如表1所示,层数为1的膜层为长波通膜系的最外层,层数为39的膜层沉积在基底上,为长波通膜系的最内层;
表1长波通膜系
。
6.一种如权利要求1或2所述的11.4~12.5μm透过长波红外滤光片的制备方法,所述方法步骤如下:
(1)将干净的基底装入清洁的真空室中,抽真空至3.0×10-3Pa;
(2)将基底加热到150℃,并保持30min;
(3)打开霍尔轻型离子源通氩气,气流量为30sccm,开启阴极电压为100~200V,阳极电压为50~100V,使得阳极电流为0.5A;采用电阻蒸发法分别在基底两侧沉积长波通膜系和短波通膜系;硫化锌膜层的沉积速率为2.0~3.0nm/s,碲化铅膜层的沉积速率为0.8~1.0nm/s;膜层厚度采用光比例法监控;
(4)基底自然冷却至室温,得到11.4~12.5μm透过长波红外滤光片。
7.根据权利要求6所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片的制备方法,其特征在于:长波通膜系及膜层厚度监控如表3所示,层数为1的膜层为长波通膜系的最外层,层数为39的膜层沉积在基底上,为长波通膜系的最内层;
表3长波通膜系及膜层厚度监控
。
8.根据权利要求6所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片的制备方法,其特征在于:短波通膜系及膜层厚度监控如表4所示,层数为1的膜层为短波通膜系的最外层,层数为16的膜层沉积在基底上,为短波通膜系的最内层;
表4短波通膜系及膜层厚度监控
。
9.根据权利要求8所述的一种11.4~12.5μm透过长波红外滤光片的制备方法,其特征在于:长波通膜系及膜层厚度监控如表3所示,层数为1的膜层为长波通膜系的最外层,层数为39的膜层沉积在基底上,为长波通膜系的最内层;
表3长波通膜系及膜层厚度监控
。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州空间技术物理研究所,未经兰州空间技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310145618.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。