[发明专利]超声成像系统和方法有效
| 申请号: | 201310141574.6 | 申请日: | 2013-04-23 |
| 公开(公告)号: | CN103371849B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
| 发明(设计)人: | B.A.劳斯 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 叶晓勇;朱海煜 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超声 成像 系统 方法 | ||
技术领域
一般来说,本公开涉及用于高程方向(elevation direction)的复合超声数据的超声成像系统和方法。
背景技术
超声成像是一种使用高频声波来产生图像的技术。图像通常从换能器阵列沿一系列扫描线来获取。按照常规技术,扫描线通常被间隔开和操控以获取来自扫描平面的可作为图像来显示的数据。或者可获取来自多个不同扫描平面的数据,以便获取体积的数据。
但是,当获取超声数据时,一些解剖组织结构可被接近换能器阵列的物体“遮蔽”。这些解剖组织结构可能未被最佳地成像。另外,难以得到沿主要垂直于换能器阵列的方向所定向的结构的最佳图像,因为这些结构在换能器阵列处反射回较少声能。
另外,常规超声图像通常包含使图像降级的斑点。斑点是从解剖组织结构所反射的散射回波信号的干扰的结果。斑点在图像上表现为颗粒和雪花状的图案。可能难以识别具有斑点的超声图像中的小结构的细节。
在常规超声成像系统中,已知的是将多个共平面超声数据获取或图像组合为单个复合图像,以便减少斑点,减少遮蔽,并且改进主要沿与换能器阵列垂直的方向延伸的结构的外观。常规系统通常执行共享同一高程平面的图像的复合。也就是说,超声成像系统将以第一方位角所获取的数据与以第二方位角所获取的数据相组合。这个技术又称作“面内复合”,因为相互复合的扫描线通常从同一扫描平面中获取。虽然面内复合已经证明在提高图像质量方面是有帮助的,但是对于能够进行的改进存在限制。为了使复合是有效的,相组合的扫描线必须以显著不同的角度来获取。但是,对于常规超声系统,对于可沿方位方向来操控射束的最大角度存在限制。因此,在生成复合图像时,常规超声系统通常仅组合扫描平面中的三个或五个不同射束方向。另外,由于复合是“面内复合”,所以复合数据没有包含来自相交或平行扫描平面的任何信息。对于某些解剖组织结构,常规面内复合因遮蔽而可导致具有伪影的图像。
由于这些和其它原因,期望用于生成复合数据的改进方法和超声成像系统。
发明内容
本文针对上述缺陷、缺点和问题,通过阅读和了解以下说明书将会理解。
在一个实施例中,一种用于生成复合超声数据的方法包括采用2D阵列探头来获取来自两个或更多相交扫描平面的数据,其中扫描平面的至少一个相对2D阵列探头以与扫描平面的至少另一个不同的仰角来设置。该方法还包括组合来自扫描平面的数据以生成复合数据。
在一个实施例中,一种用于生成复合超声数据的方法包括采用2D阵列探头来获取来自体积中的第一多个扫描平面的第一数据,其中第一数据沿第一多个扫描线来获取。该方法包括采用2D阵列探头来获取来自体积中的第一多个扫描平面的第二数据,其中第二数据沿第二多个扫描线来获取。第二多个扫描线的每个与第一多个扫描线的至少一个相交。该方法包括采用2D阵列探头来获取来自体积中的第二多个扫描平面的数据。第二多个扫描平面的每个与体积中的第一多个扫描平面的至少一个相交,因为相交平面相对2D阵列探头以不同的仰角来设置。该方法还包括将第一数据与第二数据和第三数据相组合以生成复合数据。
在另一个实施例中,超声成像系统包括2D阵列探头,该2D阵列探头包括探头面、显示装置以及与探头和显示装置进行电子通信的处理器。处理器配置成控制2D阵列探头来获取来自相对探头面以第一仰角所设置的第一扫描平面的第一数据。处理器配置成控制2D阵列探头来获取来自相对探头面以第二仰角所设置的第二扫描平面的第二数据,其中第一角度不同于第二角度。处理器配置成将第一数据与第二数据相组合以生成复合数据、从复合数据来生成图像以及在显示装置上显示图像。
通过附图及其详细描述,本领域的技术人员将会清楚地知道本发明的各种其它特征、目的和优点。
附图说明
图1是按照一个实施例的超声成像系统的示意图;
图2是按照一个实施例的2D阵列探头的示意表示;
图3是按照一个实施例的阵列的示意表示;
图4是按照一个实施例所示的流程图;
图5是按照一个实施例、相对探头面和阵列所示的扫描平面的透视图的示意表示;
图6是按照一个实施例、相对探头面和阵列所示的扫描平面的透视图的示意表示;
图7是按照一个实施例的阵列、探头面和多个扫描线的正视图的示意表示;以及
图8是按照一个实施例的阵列、探头面和多个扫描线的正视图的示意表示。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司,未经通用电气公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310141574.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种逆变器过载检测电路
- 下一篇:一种光纤电流传感器





