[发明专利]光学传感器和图像形成装置有效

专利信息
申请号: 201310139485.8 申请日: 2013-02-20
公开(公告)号: CN103257544A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 星文和;菅原悟;石井稔浩;大场义浩 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G15/00 分类号: G03G15/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 郭定辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 传感器 图像 形成 装置
【权利要求书】:

1.一种光学传感器,包括:

照射系统,从相对于表面的法线方向倾斜的入射方向朝被摄体的表面照射第一偏振方向的线性偏振光;

第一光电检测系统,包括布置在从被摄体镜面反射的光的光学路径上的第一光电检测器;

第二光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上且分离与第一偏振方向正交的第二偏振方向的线性偏振分量的光学元件和接收由光学元件分离的光的第二光电检测器;以及

限制构件,布置在关于第一光电检测器和第二光电检测器中的至少一个的入射光的光学路径上并且限制所述至少一个光电检测器的光接收范围。

2.如权利要求1所述的光学传感器,其中限制构件包括第一限制构件,第一限制构件布置在入射到第一光电检测器上的光的光学路径上;而且

第一限制构件具有开口,所述开口具有关于平行于第一光电检测器的光接收面的平面上相互正交的两个方向限制第一光电检测器的光接收范围的形状。

3.如权利要求1或2所述的光学传感器,其中限制构件包括第二限制构件,第二限制构件布置在入射到第二光电检测器上的光的光学路径上;而且

第二限制构件具有开口,所述开口具有关于与第二光电检测器的入射面正交的方向限制第二光电检测器的光接收范围的形状。

4.如权利要求1至3中任一项所述的光学传感器,其中光学元件和第二光电检测器布置在于被摄体的表面的法线方向上漫反射的光的光学路径上。

5.如权利要求1至4中任一项所述的光学传感器,还包括:

第三光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上的至少一个光电检测器;以及

处理单元,基于第二光电检测器的输出和第一光电检测器的输出与第三光电检测系统的至少一个光电检测器的输出的比率指定被摄体。

6.如权利要求1至4中任一项所述的光学传感器,还包括:

第三光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上的至少一个光学元件和接收透射通过所述至少一个光学元件的光的至少一个光电检测器;以及

处理单元,基于第一光电检测器的输出和第二光电检测器的输出与第三光电检测系统的至少一个光电检测器的输出的比率指定被摄体。

7.如权利要求1至4中任一项所述的光学传感器,还包括:

第三光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上的至少一个光电检测器;以及

第四光电检测系统,包括布置在于被摄体的入射面内从被摄体漫反射的光的光学路径上且透射第二偏振方向的线性偏振分量的至少一个光学元件和接收透射通过所述至少一个光学元件的光的至少一个光电检测器;以及

处理单元,基于第一光电检测器的输出与第三光电检测系统的至少一个光电检测器的输出的比率和第二光电检测器的输出与第四光电检测系统的至少一个光电检测器的输出的比率指定被摄体。

8.如权利要求1至7中任一项所述的光学传感器,其中照射系统包括表面发射激光器阵列,其包括二维排列的多个发光单元。

9.一种在记录介质上形成图像的图像形成装置,包括:

如权利要求1至8中任一项所述的光学传感器,该光学传感器辨别作为被摄体的记录介质;以及

调整装置,基于光学传感器的输出指定记录介质的品牌并根据指定的品牌调整图像形成条件。

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