[发明专利]电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备在审

专利信息
申请号: 201310134055.7 申请日: 2013-04-17
公开(公告)号: CN103226424A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 莫良华;刘卫平 申请(专利权)人: 敦泰科技有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 开曼群岛大开曼*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要:
搜索关键词: 电容 式触控 设备 检测 方法 装置 以及
【说明书】:

技术领域

发明涉及触控设备技术领域,具体涉及一种电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备。

背景技术

电容式触控设备检测方案,包括自电容式和互电容式两种。自电容式检测方案是检测触控设备中的电极对地电容的大小,即,检测电路通过电极发出扫描信号,并从同一电极接收反馈信号,根据反馈信号的大小来计算对地电容的大小。如果当前电极上发生了触摸事件,由于人体和地之间电容很大,人体可以接近等效于一个大地,则当前电极对地电容会增大;如图1所示,Cp表示当前电极的初始对地电容,Cf表示当前电极对人体的电容,则当前的对地电容为Cp和Cf的并联。因此,检测电路如果检测出对地电容增加,就可以判定当前电极发生了触摸;进一步根据各电极对地电容的变化,可以计算出发生触摸的具体位置。互电容检测方案是通过一个电极发出扫描信号,同时通过另一个电极接收扫描信号,进而计算两个电极之间电容的大小或变化。

图2示出了一种常见的触摸屏结构,其X轴方向包括T1、T2….T16等电极,Y轴方向R1、R2…R10等电极。假设检测发现,T13,T14,T15以及R3,R4,R5的对地电容发生了变化,则,通过T13,T14,T15上电容变化大小,可以得出触摸位置的X轴坐标,通过R3,R4,R5上电容变化大小,可以得出Y轴坐标。

现有技术中比较常用的方案是,检测电路通过开关切换,分时检测触控设备上的各个电极的对地电容,当前未扫描的电极接地或悬空。当有质量较差的充电器接到触控设备所在的系统时,系统地相对于真正大地会出现噪声,即通常所说的电源干扰,检测电路以系统地为参考看到的人体就是一个噪声源,噪声通过人体与电极之间的电容耦合到检测电路上,此时,检测电路检测到的电容值是不准确的。

由于现有技术中对各个电极的检测是分时处理的,则,不同的电极在检测时的电源干扰是不相关的,那么,在计算触摸位置时,电源干扰就无法被消除,导致计算到的触摸位置就会不准确,与实际触摸位置不同。

发明内容

本发明实施例提供一种电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备,以解决现有触控设备因电源干扰而导致的检测结果不准确的技术问题。

本发明第一方面提供一种电容式触控设备检测方法,包括:依次驱动第一维度上的M组电极和第二维度上的N组电极进行检测,其中,M和N均为自然数,任一组电极所包括的两个以上电极均同时进行检测;根据所述第一和第二维度上各组电极的检测结果,分别计算触摸位置的第一和第二维度坐标数据,确定一组可能的触摸位置。

本发明第二方面提供一种电容式触控设备检测装置,包括:第一检测模块,用于依次驱动第一维度上的M组电极和第二维度上的N组电极进行检测,其中,M和N均为自然数,任一组电极所包括的两个以上电极均同时进行检测;计算模块,用于根据所述第一和第二维度上各组电极的检测结果,分别计算触摸位置的第一和第二维度坐标数据,确定一组可能的触摸位置。

本发明第三方面提供一种电容式触控设备,包括:如上所述的装置。

本发明实施例采用将触摸设备的电极分为多个组,每个组的多个电极同时进行检测的技术方案,则,在有电源干扰的情况下,同一组内多个电极的检测结果中的电源干扰成分是相关的,有确定的关联关系,那么,在后续计算中就可以通过一定的算法消除电源干扰,计算出准确的触摸位置。

附图说明

图1是有触摸事件时检测对地电容的示意图;

图2是一种常见的触摸屏结构的示意图;

图3是本发明实施例提供的电容式触控设备检测方法的示意图;

图4是一种电容触摸屏结构的示意图;

图5是多点触控的示意图;

图6是互电容扫描技术的原理图;

图7是本发明实施例提供的电容式触控设备检测装置的示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供一种电容式触控设备检测方法和装置以及电容式触控设备,可以消除电源干扰带来的影响,计算出准确的触摸位置。本发明实施例还提供相应的装置。以下结合附图分别进行详细说明。

实施例一、

请参考图3,本发明实施例提供一种电容式触控设备检测方法,包括:

110、依次驱动第一维度上的M组电极和第二维度上的N组电极进行检测,其中,M和N均为自然数,任一组电极所包括的两个以上电极均同时进行检测。

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