[发明专利]基于BIM的测绘放样系统无效
| 申请号： | 201310132209.9 | 申请日： | 2013-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN103256923A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 邢磊;于晓明;赵民琪;陆兰馨 | 申请（专利权）人： | 上海上安机电设计事务所有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 200437 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 bim 测绘 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于BIM的测绘放样系统，其特征在于，包括处理器、BIM数据存储器、显示器、终端控制器以及测绘终端，所述的处理器分别连接BIM数据存储器、显示器和终端控制器，所述的测绘终端与终端控制器连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样系统，其特征在于，所述的测绘终端包括GPS、电子经纬仪、光电测距仪、微处理器和反射棱镜，所述的GPS、电子经纬仪和光电测距仪均与微处理器连接，所述的反射棱镜正对光电测距仪设置。
3.根据权利要求2所述的一种基于BIM的测绘放样系统，其特征在于，所述的光电测距仪为脉冲法测距仪或相位法测距仪。
4.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样系统，其特征在于，所述的终端控制器与测绘终端之间通过2.4GHz的无线网络连接。
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