[发明专利]全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂

说明书

技术领域

本发明属于光谱分析技术领域，尤其涉及一种全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂。

背景技术

全谱直读直流电弧发射光谱法具有分析速度快、操作简单、准确度高、检出限低等特点，尤其是对难溶(熔)类固体样品的分析，更是其它技术无法媲美的。在测量过程中，一般需要加入光谱缓冲剂，光谱缓冲剂是在试样中加入的能够稳定电弧，减少试样组成对谱线强度影响的一类物质，它的主要作用是：减小试样组成对电弧温度的影响，使弧烧温度稳定；当稀释剂稀释试样，减小试样在组成及性质上的差别；使分馏效果更明显，改进待测元素的检测限。所以缓冲剂对测量结果有很大的影响。但是全谱直读直流电弧发射光谱法在地质样品分析中却很少应用，其主要原因是地质粉末样品在直流电弧中直接弧烧时，弧烧温度不稳定，并且各元素蒸发行为不一致，从而难以对地质样品进行多元素的同时分析，因此对缓冲剂的进一步研究有着非常重要的意义。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供一种全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂，其特征在于所述缓冲剂各组分按质量比例组成为：三氧化二铝∶氟化钠∶焦硫酸钾∶碳粉∶二氧化锗＝48∶18∶26∶8∶0.0007，其中所述二氧化锗为内标。

本发明的有益效果为：将分析样品与本发明的缓冲剂混合后再进行直流电弧激发，可以克服弧烧温度不稳定的难题，并能有效改善各元素的蒸发行为，进而有利于一次曝光多元素同时分析，采用本发明的缓冲剂后，不仅大大降低了光谱背景，改善了测定精密度，提高了测定灵敏度和准确度，而且使得仪器对元素同时测量的范围更广，可同时测定Ag、Cd、Yb、Bi、Sb、Sn、Be、Mo、W、Y、La、Nb、Ga、Co、Cr、As、Ni、B、Ce、Li、V、Zr、Cu、Pb、Zu、Sr、Ba、Ti、Mn等元素。

具体实施方式

本发明提供的全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂，各组分按质量比例组成为：三氧化二铝∶氟化钠∶焦硫酸钾∶碳粉∶二氧化锗＝48∶18∶26∶8∶0.0007，其中二氧化锗为内标。

测量时，称取0.25g本发明的缓冲剂，并与地质样品按质量比1∶1混合均匀，装入电极，在全谱直读直流电弧发射光谱上进行测量，可同时测定Ag、Cd、Yb、Bi、Sb、Sn、Be、Mo、W、Y、La、Nb、Ga、Co、Cr、As、Ni、B、Ce、Li、V、Zr、Cu、Pb、Zu、Sr、Ba、Ti、Mn等元素。