[发明专利]摄像设备和摄像设备的控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种使用固态图像传感器的摄像设备、以及用于对摄像设备中的缺陷像素进行处理的方法。

背景技术

在近来的摄像设备中，例如，以电荷耦合器件(CCD)传感器和互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器为代表的固态图像传感器中的像素数不断增加。随着这种像素数量的增加，图像传感器上的缺陷像素(缺陷)的出现也不断增多。缺陷像素的示例包括在图像传感器的制造过程期间产生的制造缺陷、以及在安装于摄像设备之后发生的生长缺陷。在生长缺陷中，一些缺陷可以被进一步分类为根据摄像设备的温度而在使用期间发生增减的温度特性依赖缺陷。在这些缺陷像素中，对于制造缺陷，通过在出厂时拍摄黑图像并且检测缺陷像素的位置来预先校正这些缺陷。此外，对于生长缺陷，可以通过在接通电源时强制对图像传感器进行遮光来拍摄黑图像，对缺陷像素进行检测和校正。然而，在上述方法中，无法检测到摄像设备的使用期间依赖于温度变化而发生的温度特性依赖缺陷。

日本特开2004-015191论述了用于从所拍摄图像检测和校正缺陷像素的方法。在日本特开2004-015191所论述的方法中，将各个像素的亮度与周围像素的亮度进行比较，并且将亮度相差了预定水平以上的像素判断为白缺陷(white flaw)。

然而，在日本特开2004-015191所论述的方法中，在包括调焦像素的图像传感器的输出中，由于调焦像素的输出值和摄像像素的输出值之间的差值大，因此存在调焦像素的输出值被识别为像素缺陷的问题。

发明内容

本发明涉及一种摄像设备和摄像设备的控制方法，即使对于包括调焦像素的图像传感器，本发明的摄像设备及其控制方法也能够适当地校正像素缺陷，并且在不会使调焦计算精度下降的情况下输出良好图像。

根据本发明的第一方面，提供了一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及检测部件，用于基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素，其中，所述检测部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。

根据本发明的第二方面，提供了一种摄像设备，包括：图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素；以及校正部件，用于对所述图像传感器内的缺陷像素的像素值进行校正，其中，所述校正部件基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从校正对象中排除。

根据本发明的第三方面，提供了一种摄像设备的控制方法，所述摄像设备包括图像传感器，在该图像传感器中排列有包括特定像素的多种类型的像素，所述控制方法包括：基于所述图像传感器内的各个像素的像素值来检测缺陷像素；以及基于表示所述图像传感器内的所述特定像素的位置的信息来将所述特定像素从所述缺陷像素的对象中排除。

通过以下参考附图对典型实施例的详细说明，本发明的其它特征和方面将变得明显。

附图说明

包含在说明书中并构成说明书一部分的附图示出了本发明的典型实施例、特征和方面，并和说明书一起用来解释本发明的原理。

图1是示出根据本发明的第一典型实施例和第二典型实施例的摄像设备的结构的框图。

图2A、2B和2C是示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的缺陷处理电路的结构的框图。

图3A和3B示出根据第一典型实施例的数据阵列。

图4是示出根据第一典型实施例的摄像设备的操作的流程图。

图5A和5B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。

图6A和6B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。

图7A和7B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。

图8A、8B、8C和8D示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。

图9A和9B示出根据第一典型实施例的图像数据阵列和缺陷信息。

图10A和10B是示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的缺陷校正电路的结构的框图。

图11A和11B示出根据第二典型实施例的图像数据阵列。

图12A和12B示出根据第一典型实施例和第二典型实施例的调焦像素的结构示例。

图13示出根据第三典型实施例的缺陷处理电路的结构示例。

具体实施方式

以下将参考附图来详细说明本发明的各种典型实施例、特征和方面。