[发明专利]自动测试设备的量测装置及方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种量测装置及方法，其尤指一种自动测试设备的量测装置及方法。

背景技术

在所有电子器件(Device)的制造过程中，都存在着去伪存真的需要，这种需要实际上就是一个测试过程。实现这种过程需要各种测试设备，这类设备就是所谓的自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)。而在自动测试领域中，如何缩短测试时间一直是非常重要的课题，测试时间缩短即代表产品的成本降低。

请参阅图1，其为习知技术的自动测试设备的电路图。如图所示，习知自动测试设备包含有多个测试通道CH1、CH2…CHn-1、CHn，该多个测试通道CH1、CH2…CHn-1、CHn连接于一参数量测单元(Parametric Measurement Unit，PMU)，且每一测试通道包含一接脚参数量测单元(Per Pin Parametric Measurement Unit，PPMU)。参数量测单元PMU用以提供精准的四象限量测(VFIM、IFVM、VMM)，但缺点是数量少，通常64个测试通道只能分配到一个参数量测单元PMU，使参数量测单元PMU轮流对待测物的多个待测接脚PIN1、PIN2…PINn-1、PINn进行量测，因此会花费过多的时间。而该多个接脚参数量测单元PPMU可同时分别量测该多个待测接脚CHI、CH2…CHn-1、CHn，但只能将所量测到的量测讯号MS输出至一比较器，而比较量测讯号MS做通过/不通过(G0/NO-GO)量测，也就是说，该多个接脚参数量测单元PPMU仅能用以测试每一个测试通道中的待测物是否可以使用，而无法读出实际测试值，所以也较不精准，因此参数量测单元PMU与接脚参数量测单元PPMU各有优缺点。

由上述可知，参数量测单元PMU可提供精准的四象限量测，但参数量测单元PMU数量少，量测时间过长，该多个接脚参数量测单元PPMU可同时量测每一测试信道，量测速度快，但只能提供通过/不通过的粗略量测。故，运用习知自动测试设备并无法达到既精准且速度快的量测方式。

再者，通常自动测试设备量测测试通道时，是由一主机透过一总线下达量测指令至自动测试设备，当需要量测多个测试通道或需要同时量测待测物的不同组件时，主机在测试每一测试通道前皆必须下达全部关闭的指令，接着再下达开启的指令以开启需量测的测试通道，因此量测越多测试信道或组件则必须下达越多量测指令，所以，上述软件控制的方式于量测许多测试信道或组件时，会有量测速度过慢的问题，且上述方式会占用总线过多的资源。

此外，由于参数量测单元PMU的成本较高，因此若增加参数量测单元PMU的数量，即会增加整体自动量测设备的成本。

因此，本发明针对上述问题提供了一种利用控制单元依序选择多个接脚量测单元，使该多个接脚参数量测单元依序量测多个待测接脚，如此，本发明利用控制单元的硬件电路量测而达到快速量测该多个待测接脚的自动测试设备的量测装置及方法。

发明内容

本发明的一目的，在于提供一种自动测试设备的量测装置与方法，其藉由一控制单元的硬件电路而依序选择多个接脚参数量测单元，使该多个接脚参数量测单元依序量测多个待测接脚，以快速量测该多个待测接脚，进而达到缩短测试时间的目的。

为了达到上述所指称的各目的与功效，本发明揭示了一种自动测试设备的量测装置，其包含多个接脚量测单元、一模拟数字转换器与一控制单元。该多个接脚参数量测单元中的每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚，以产生一量测讯号，模拟数字转换器用以将量测讯号转换为一读值讯号，控制单元电性连接于模拟数字转换器，用以选择该多个接脚参数量测单元之一，并控制模拟数字转换器进行转换以接收读值讯号。如此，本发明藉由控制单元依序选择该多个接脚参数量测单元，使该多个接脚参数量测单元依序量测多个待测接脚，以快速量测该多个待测接脚，进而达到缩短测试时间的目的。

本发明更揭示了一种自动测试设备的量测方法，应用于一量测装置电性连接自动测试设备的多个接脚参数量测单元，量测方法的步骤包含：依据一选择讯号选择该多个接脚参数量测单元之一；驱使所选择的接脚参数量测单元量测对应的一待测接脚，以产生一量测讯号；以及将所选择的接脚参数量测单元输出的量测讯号转换为一读值讯号。

实施本发明产生的有益效果是：本发明藉由在多个接脚参数量测单元的输出端连接一模拟数字转换器，以将该多个接脚参数量测单元输出的量测讯号转换为读值讯号，并藉由一控制单元依序选择需量测的该多个接脚参数量测单元之一，以达到快速且精准的量测多个待测接脚的目的。

附图说明