[发明专利]电子装置、静电放电测试系统和方法无效

专利信息
申请号: 201310121107.7 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN104101826A 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 周玮洁;赖盈佐;张恩硕;陈俊仁 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 电子 装置 静电 放电 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种静电放电测试系统,所述测试系统运行于一电子装置,用于对与所述电子装置连接的PCB板进行静电放电测试,其特征在于,所述测试系统包括:

线路信息获取模块,用于读取所述PCB板的布线信息并将PCB板的布线信息存储于电子装置的存储单元中,所述布线信息包括线路名称、电路元件以及位置;

ESD测试模块,根据所述线路信息获取模块获取的布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件,并将确定的通过ESD校验的所述电路元件信息存储于电子装置的存储单元中;

分析模块,用于对所述存储单元中存储的由所述线路信息获取模块获取的PCB板的布线信息以及由所述ESD测试单元确定的电路元件进行分析以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及

显示控制模块,用于获取所述分析模块确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并控制所述电子装置显示所述PCB板的布线信息,以及在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。

2.如权利要求1所述的静电放电测试系统,其特征在于,所述ESD测试模块根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。

3.如权利要求2所述的静电放电测试系统,其特征在于,当所述ESD测试模块判断电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。

4.如权利要求1所述的静电放电测试系统,其特征在于,所述显示控制模块改变所述未通过ESD校验的电路元件的颜色进行标识显示。

5.一种电子装置,包括处理单元、存储单元和显示单元,所述处理单元与一PCB板及所述存储单元连接,其特征在于,所述处理单元包括:

线路信息获取模块,用于读取所述PCB板的布线信息并将PCB板的布线信息存储于所述存储单元中,所述布线信息包括线路名称、电路元件以及位置;

ESD测试模块,根据所述线路信息获取模块获取的布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件,并将确定的通过ESD校验的所述电路元件信息存储于所述存储单元中;

分析模块,用于对所述存储单元中存储的由所述线路信息获取模块获取的PCB板的布线信息以及由所述ESD测试单元确定的电路元件进行分析以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及

显示控制模块,用于获取所述分析模块确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并控制所述显示单元显示所述PCB板的布线信息,以及在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。

6.如权利要求5所述的电子装置,其特征在于,所述ESD测试模块根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。

7.如权利要求6所述的电子装置,其特征在于,当所述ESD测试模块判断电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。

8.一种静电放电测试方法,应用于一电子装置,包括:

建立PCB板与所述电子装置的通信连接;

读取所述PCB板的布线信息并存储所述布线信息,所述布线信息包括所述PCB板的线路名称、电路元件及位置;

对所述布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件并存储所述确定的电路元件;

分析所述布线信息以及确定的通过ESD校验的电路元件以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及

获取所述确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。

9.如权利要求8所述的静电放电测试方法,其特征在于,所述“对所述布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件并存储所述确定的电路元件”包括根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。

10.如权利要求9所述的静电放电测试方法,其特征在于,当所述电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310121107.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top