[发明专利]电子装置、静电放电测试系统和方法无效
| 申请号: | 201310121107.7 | 申请日: | 2013-04-09 |
| 公开(公告)号: | CN104101826A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
| 发明(设计)人: | 周玮洁;赖盈佐;张恩硕;陈俊仁 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电子 装置 静电 放电 测试 系统 方法 | ||
1.一种静电放电测试系统,所述测试系统运行于一电子装置,用于对与所述电子装置连接的PCB板进行静电放电测试,其特征在于,所述测试系统包括:
线路信息获取模块,用于读取所述PCB板的布线信息并将PCB板的布线信息存储于电子装置的存储单元中,所述布线信息包括线路名称、电路元件以及位置;
ESD测试模块,根据所述线路信息获取模块获取的布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件,并将确定的通过ESD校验的所述电路元件信息存储于电子装置的存储单元中;
分析模块,用于对所述存储单元中存储的由所述线路信息获取模块获取的PCB板的布线信息以及由所述ESD测试单元确定的电路元件进行分析以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及
显示控制模块,用于获取所述分析模块确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并控制所述电子装置显示所述PCB板的布线信息,以及在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。
2.如权利要求1所述的静电放电测试系统,其特征在于,所述ESD测试模块根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。
3.如权利要求2所述的静电放电测试系统,其特征在于,当所述ESD测试模块判断电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。
4.如权利要求1所述的静电放电测试系统,其特征在于,所述显示控制模块改变所述未通过ESD校验的电路元件的颜色进行标识显示。
5.一种电子装置,包括处理单元、存储单元和显示单元,所述处理单元与一PCB板及所述存储单元连接,其特征在于,所述处理单元包括:
线路信息获取模块,用于读取所述PCB板的布线信息并将PCB板的布线信息存储于所述存储单元中,所述布线信息包括线路名称、电路元件以及位置;
ESD测试模块,根据所述线路信息获取模块获取的布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件,并将确定的通过ESD校验的所述电路元件信息存储于所述存储单元中;
分析模块,用于对所述存储单元中存储的由所述线路信息获取模块获取的PCB板的布线信息以及由所述ESD测试单元确定的电路元件进行分析以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及
显示控制模块,用于获取所述分析模块确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并控制所述显示单元显示所述PCB板的布线信息,以及在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。
6.如权利要求5所述的电子装置,其特征在于,所述ESD测试模块根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。
7.如权利要求6所述的电子装置,其特征在于,当所述ESD测试模块判断电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。
8.一种静电放电测试方法,应用于一电子装置,包括:
建立PCB板与所述电子装置的通信连接;
读取所述PCB板的布线信息并存储所述布线信息,所述布线信息包括所述PCB板的线路名称、电路元件及位置;
对所述布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件并存储所述确定的电路元件;
分析所述布线信息以及确定的通过ESD校验的电路元件以确定未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置;以及
获取所述确定的未通过ESD校验的电路元件及其在所述PCB板上的位置,并在所述布线信息的对应位置上对所述未通过ESD校验的电路元件进行标识显示。
9.如权利要求8所述的静电放电测试方法,其特征在于,所述“对所述布线信息进行ESD测试以确定已经通过ESD校验的电路元件并存储所述确定的电路元件”包括根据电路元件的阻抗路径确定所述电路元件是否通过ESD校验。
10.如权利要求9所述的静电放电测试方法,其特征在于,当所述电路元件的阻抗路径大于或等于一预定值时确定所述电路元件的ESD校验通过,当所述电路元件的阻抗路径小于所述预定值时确定所述电路元件未通过ESD校验。
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