[发明专利]一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法有效
申请号: | 201310112461.3 | 申请日: | 2013-04-01 |
公开(公告)号: | CN103197340A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 潘树国;聂文锋;胡伍生 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 格网化 电离层 电子 含量 实时 监测 方法 | ||
1.一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1),区域格网化:
根据监测区域的大小,划分好具有纬差和经差的格网,并确定各格网点的经纬度;
步骤2),读取监测日前一天的a(a为大于3的自然数)个CORS网多站导航文件和观测文件,并对观测文件进行数据预处理;
数据预处理包括粗差剔除,周跳探测与修复,高度截止角的处理,伪距值的优化以及穿刺点的确定;
步骤3),采用所述步骤2)中读取的导航文件和经过数据预处理的观测文件数据,建立监测日前一天全天电离层延迟多站多项式模型计算DCB:
电离层TEC多项式模型为:
式中Eik为模型系数;s0为测区中心点(φ0,λ0)在该时段中央时刻t0的太阳时角,φ0为测区中心地理纬度,λ0为测区中心点的地理经度,S是穿刺点在时刻t的太阳时角,其中s-s0=(λ-λ0)+(t-t0),λ,分别为信号路径与单层交点,即穿刺点的地理经度和地理纬度,t为观测时刻;n,m为多项式展开的阶数;Z′为穿刺点天顶距;dqj,dqi分别是接收机和卫星DCB;为双频P码伪距观测量;
其中,采用分段常数的方法计算卫星DCB和接收机DCB;计算DCB时采用欧洲定轨中心约束条件:
其中b为卫星个数,qi为i卫星的DCB;
步骤4),将所述步骤3)中计算所得的检测日前一天卫星DCB和接收机DCB代入监测当日的电离层TEC多项式模型中,忽略时间维信息,建立单历元的电离层TEC多项式模型:
式中Eik为模型系数;λ,分别为信号路径与单层交点,即穿刺点的地理经度和地理纬度;φ0为测区中心地理纬度,λ0为测区中心点的地理经度;为双频P码伪距观测量;dqj,dqi分别是前一天的接收机和卫星DCB;
步骤5),将所述步骤1)中确定的格网点的经纬度代入所述步骤4)中建立的单历元电离层TEC多项式模型中,计算各格网点天顶方向的电离层TEC值,建立时间序列,从而达到实时监测的目的。
2.根据权利要求1所述的一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法,其特征在于:
所述步骤3)中建立全天电离层延迟模型进行分段常数解算DCB时,采用相位平滑伪距的技术,并且平滑数据是完整弧段。
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