[发明专利]一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及阵列基板行驱动线路，尤其涉及该阵列基板行驱动线路的测试方法。

背景技术

随着电子商品市场的发展日渐蓬勃，对于液晶显示器面板的需求量也越来越大。此需求是因为许多电子产品采用液晶显示器（Liquid Crystal Display，LCD），例如电视屏幕、电脑屏幕、手机屏幕等等。对应地，液晶显示器面板的测试也成为量产液晶显示器面板的关键步骤。目前，液晶显示器面板的测试方法包括全面接触测试法（Full Contact）以及短路杆测试法（Shorting Bar）。全面接触测试法的优点是其良好的测试功能，但会消耗许多芯片的测试时间，相比之下，短路杆测试法将所有扫描线分为奇数条和偶数条两组，并将每组所有的时序信号输入端连接在一起，所有的起始信号输入端连接在一起，所有的下拉信号输入端连接在一起，因而可显著地缩短测试时间。

以GOA（Gate Driver On Array,阵列基板行驱动）面板的短路杆测试法为例，在现有技术中，由于a-Si电子迁移率较低，用于GOA线路的电测试信号不能使用GG-TFT来控制（因高电压仍会造成驱动不足）而改用短路杆方式来驱动，测试结束后，通过激光切割（Laser Cut）来断开电测试信号的短路杆，进而避免出现ESD不良的情形。然而，该测试方法中的激光切割属于单向操作，一旦切断电测试信号的短路杆与GOA线路之间的电连接通路，测试异常时根本无法快速地重复执行画面测试。

有鉴于此，如何设计一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法，即使在激光切割掉短路杆与GOA线路的电连接通路之后，仍然可退回画面测试点亮确认，以便消除上述缺陷或不足，是业内相关技术人员亟待解决的一项课题。

发明内容

针对现有技术中的用于阵列基板行驱动线路的测试方法所存在的上述缺陷，本发明提供了一种新颖的、用于阵列基板行驱动线路的测试方法。

依据本发明的一个方面，提供了一种用于阵列基板行驱动线路的测试方法，该线路包括相对设置的多个输入焊垫和多个输出焊垫，其中，该测试方法包括以下步骤：

提供多个辅助输入焊垫和多个辅助输出焊垫，其中，每一辅助输入焊垫与相应的输入焊垫对应设置，每一辅助输出焊垫与相应的输出焊垫电性连接至同一栅驱动线；

提供多个测试焊垫和至少一控制焊垫，其中，所述多个测试焊垫中的每一测试焊垫先电性连接至相应的辅助输入焊垫，然后经由一导电连接线电性耦接至与所述辅助输入焊垫相对应的辅助输出焊垫；

执行画面测试；

将所述辅助输入焊垫与所述辅助输出焊垫之间的导电连接线以激光切割方式切断；以及

在每一辅助输入焊垫与辅助输出焊垫所对应的切断位置分别设置一开关，从而藉由所述开关的通断来控制所述测试焊垫与所述输出焊垫之间电性连接或电性隔断。

优选地，上述开关为一薄膜晶体管。

在其中的一实施例中，开关的源极电性连接至所述辅助输入焊垫，所述开关的漏极电性连接至所述辅助输出焊垫。

在其中的一实施例中，所有开关的栅极均电性耦接至所述控制焊垫。更优选地，所有开关的栅极电性连接在一起，并经由一辅助控制焊垫电性连接至所述控制焊垫。

在其中的一实施例中，当所述控制焊垫为高电平电压时，所述开关打开从而使所述GOA线路重新执行画面测试。

优选地，所述辅助控制焊垫位于所述多个辅助输入焊垫的最外侧，以及所述控制焊垫位于所述多个测试焊垫的最外侧。

采用本发明的用于阵列基板行驱动线路的测试方法，设置多个测试焊垫和至少一控制焊垫，这些测试焊垫中的每一测试焊垫先电性连接至辅助输入焊垫再经由一导电连接线电性耦接至与辅助输入焊垫相对应的辅助输出焊垫，在激光切割切断导电连接线后，于辅助输入焊垫和辅助输出焊垫所对应的切断位置设置一开关，从而可藉由开关的通断来控制测试焊垫与输出焊垫之间电性连接或电性隔断。相比于现有技术，本发明的测试方法利用新增的辅助输入焊垫、辅助输出焊垫、控制焊垫，在激光切断后仍然可回退画面测试点亮确认。此外，当开关断开时，测试垫耦接的电测试信号并不会轻易打到GOA线路，造成GOA线路损伤，确保了GOA线路的ESD防护性能。

附图说明

读者在参照附图阅读了本发明的具体实施方式以后，将会更清楚地了解本发明的各个方面。其中，

图1为现有技术中的一种用于阵列基板行驱动线路的测试电路示意图；

图2示出依据本发明一实施方式的用于阵列基板行驱动线路的测试方法流程图；