[发明专利]反射式显微分析系统

说明书

技术领域

本发明涉及显微分析系统，特别是反射式显微分析系统。

背景技术

现有显微镜都是通过目镜观察，使用者长期使用会产生严重的视觉疲劳从而影响视力，如果使用通过摄像头使用电脑观察，显示器和仪器分离，不能很好地正面观察，不利于作业。而且传统的显微镜在光学设计上都是以目镜观察为基础的设计，局限性很大，并且会加大产品成本和生产周期以及加工技术的复杂性。光学系统采用垂直的方法会使屏幕加高，不符合人机科学。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本发明的目的是提供一种可以实现屏幕观察代替目镜观察，并且采用光学系统横置，有效降低了屏幕的高度，符合人机科学，大大增加了使用者的舒适程度的反射式显微分析系统。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案：反射式显微分析系统，包括适配镜组，所述的适配镜组横向放置，所述的适配镜组的光线入射端设有反光镜，所述反光镜下方设有物镜接口，所述的反光镜的入射光线为物镜的中轴线，所述反光镜的反射光线为适配镜组的中轴线，所述适配镜组的光线出射端设有摄影部件，所述的摄影部件将图像直接或通过计算机在显示器上显示出来。所述显示器位于反光镜的入射光线延长线的后方。

所述计算机上设有电源适配器。

采用上述技术方案后，本发明具有以下有益效果：取消了传统显微镜的目镜观察，使用显示器观察，由于采用适配镜组横置，减低了显示器的高度，在合适的高度下，使观察者更舒适。

附图说明

图1为本发明单反光镜显微分析系统的结构示意图。

图中：1、适配镜组  2、反光镜  3、摄影部件  4、计算机  5、物镜接口  6、显示器  7、电源适配器。

具体实施方式

下面结合说明书附图和具体实施例对本发明作进一步的解释。

如图1所示，反射式显微分析系统，包括适配镜组1，所述的适配镜组1横向放置，所述的适配镜组1的光线入射端设有反光镜2，所述反光镜2下方设有物镜接口5，所述的反光镜2的入射光线为物镜的中轴线，所述反光镜2的反射光线为适配镜组1的中轴线，所述适配镜组1的光线出射端设有摄影部件3，所述的摄影部件3将图像直接或通过计算机4在显示器6上显示出来。所述显示器6位于反光镜2的入射光线延长线的后方。

所述计算机4上设有电源适配器7。

所述显示器6为触摸式或非触摸式显示器6。所述显示器6通过转轴可旋转180度。所述计算机4可以装载测量分析软件对所取图像进行测量分析。

本发明可以实现屏幕代替目镜观察，采用光学系统横置，有效降低了屏幕的高度，符合人机科学，大大增加了使用者的舒适程度。该设计还有效提高了显微镜的自动化程度，并在本机上就可以实现图像数字化处理。使远程控制更简便，一体化设计节省空间，也便于管理。