[发明专利]一种导光板的均匀度测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及照明领域，尤其涉及一种导光板的均匀度测试方法。

背景技术

导光板广泛应用于背光模组技术及灯箱照明领域，用于将线光源转变为面光源。

目前，检测导光板品质的方法仅在目视导光板是否有黑点、漏点、缺点，面光源是否均匀，导光板是否出现雾化、开裂等基础检测上。而对导光板经过长期应用后，是否会出现因导光板开裂、变形等异常而导致该导光板亮度均匀性差等问题，却无有效的测试方法。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种导光板的均匀度测试方法，可有效测试所述导光板经长期使用后的均匀度。

为了解决上述技术问题，本发明的实施例提供了一种导光板的均匀度测试方法，包括以下步骤：

提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板；

提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板；

提供一测试平台，将已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试后的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为第四预设时间；

提供一光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干测试点的亮度，从而得到已进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之后的所述导光板的均匀度。

其中，在所述提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述光源，将所述导光板和所述光源置于暗房环境，点亮所述光源，并将所述光源预热所述第五预设时间后，测试所述导光板上特定的若干个点的亮度，从而得到在进行所述高温老化测试和所述温度冲击测试之前的所述导光板的均匀度。

其中，在所述提供一温箱，将待测导光板置于所述温箱内，所述温箱的温度为第一预设温度，测试时间为第一预设时间，启动所述温箱，以进行所述导光板的高温老化测试，测试结束后从所述温箱中取出所述导光板的步骤之后，在所述提供一冷热冲击机，将所述导光板置于所述冷热冲击机内，所述冷热冲击机的低温为第二预设温度，低温保持时间为第二预设时间，所述冷热冲击机的高温为第三预设温度，高温保持时间为第三预设时间，高低温循环次数为预设次数，以进行所述导光板的温度冲击测试，测试结束后，从所述冷热冲击机中取出所述导光板的步骤之前，还包括步骤：提供所述测试平台，将已进行所述高温老化测试的所述导光板，常温下静置于所述测试平台上，静置时间为所述第四预设时间。

其中，所述测试点的个数为9个，且分别处于九宫格位置，所述九宫格位置与所述光源的发光尺寸相匹配。

其中，通过色彩分析仪测试所述导光板的9个点的亮度。

其中，所述第一预设温度为55～75℃，所述第一预设时间为至少240h。

其中，所述第二预设温度为-35～-15℃，所述第二预设时间为至少30min，所述第三预设温度为55～65℃，所述第三预设时间为至少30min，所述预设次数为至少10次。

其中，所述第四预设时间为至少2h。

其中，所述第五预设时间为0.5h。

本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，通过所述高温老化测试模拟所述导光板在经过长期使用后的状态，通过所述冷热冲击机的温度冲击测试模拟所述导光板受恶劣环境变化影响后的状态，最后检查所述导光板的均匀度，以确认所述导光板的均匀度是否满足长期使用要求。

本发明实施例提供的所述导光板的均匀度测试方法，简便可行，有效地模拟所述导光板在经长期使用后所述导光板导光率差，光线不均匀等问题。筛选均匀度高的优质所述导光板，以为产品开发提供依据。使得筛选出的所述导光板在经长期使用后，仍具有较好的平整度和可靠度，满足客户长期使用的需求。

附图说明