[发明专利]材料及其生产方法

权利要求书

1.材料，包含：

介质；

分散在所述介质中的碳纳米管；以及

附着至在第一数量的所述碳纳米管上的官能团的第一荧光部分，所述第一荧光部分以足以使所述材料在辐射的存在下发荧光的浓度处于所述材料中。

2.权利要求1的材料，其中所述碳纳米管是以足以使所述材料在该材料的电逾渗阈值或在该材料的电逾渗阈值之上导电的浓度分散的。

3.权利要求2的材料，其中所述介质是非传导性的。

4.权利要求1的材料，其中所述第一荧光部分是亲水的或疏水的。

5.权利要求1的材料，进一步包含附着至所述碳纳米管的一个或多个的分散性官能团。

6.权利要求1的材料，其中所述第一荧光部分以在可见光谱内或低于可见光谱的第一发射波长发荧光。

7.权利要求6的材料，进一步包含：

附着至在第二数量的所述碳纳米管上的官能团的第二荧光部分，其浓度足以使所述材料在辐射的存在下发荧光，

其中所述第二荧光部分以在可见光谱内或低于可见光谱的第二发射波长发荧光，且所述第一和第二发射波长是不同的波长。

8.生产材料的方法，包括：

提供介质；

将碳纳米管分散在所述介质中；以及

将第一荧光部分附着至在第一数量的所述碳纳米管上的官能团，所述第一荧光部分以足以使所述材料在辐射的存在下发荧光的浓度处于所述材料中。

9.权利要求8的方法，其中所述碳纳米管是以足以使所述材料在该材料的电逾渗阈值或在该材料的电逾渗阈值之上导电的浓度分散的。

10.权利要求9的方法，其中所述介质是非传导性的。

11.权利要求8的方法，其中所述第一荧光部分是亲水的或疏水的。

12.权利要求8的方法，进一步包括将分散性官能团附着至所述碳纳米管的一个或多个。

13.权利要求8的方法，其中所述第一荧光部分以在可见光谱内或低于可见光谱的第一发射波长发荧光。

14.权利要求13的方法，进一步包括：

将第二荧光部分附着至在第二数量的所述碳纳米管上的官能团，所述第二荧光部分以足以使所述材料在辐射的存在下发荧光的浓度处于所述材料中，

其中所述第二荧光部分以在可见光谱内或低于可见光谱的第二发射波长发荧光，且所述第一和第二发射波长是不同的波长。

15.用于鉴定具有材料的产品的真伪的方法，包括：

将所述材料暴露于入射辐射，所述材料包括介质和分散在所述介质中的碳纳米管，其中第一荧光部分以足以使所述材料在辐射的存在下以第一发射波长发荧光的浓度附着至在第一数量的所述碳纳米管上的官能团；以及

检测具有第一发射波长的发出的辐射以鉴定所述产品的真伪。

16.权利要求15的方法，其中所述第一发射波长在可见光谱内或低于可见光谱。

17.权利要求16的方法，其中所述材料进一步包括附着至在第二数量的所述碳纳米管上的官能团的第二荧光部分，其浓度足以使所述材料在辐射的存在下以第二发射波长发荧光，并且其中所述第二荧光部分以在可见光谱内或低于可见光谱的第二发射波长发荧光，且所述第一和第二发射波长是不同的波长，所述方法进一步包括：

检测具有所述第二发射波长的发出的辐射以鉴定所述产品的真伪。

18.权利要求15的方法，进一步包括：

检测所述材料是否以第一预定的强度发荧光以鉴定所述产品的真伪。

19.权利要求15的方法，其中所述碳纳米管以足以使所述材料在该材料的电逾渗阈值或在该材料的电逾渗阈值之上导电的浓度分散在所述介质中。

20.权利要求19的方法，进一步包括测试所述材料的电导率以鉴定所述产品的真伪。

21.权利要求19的方法，其中所述介质是非传导性的。

22.权利要求21的方法，进一步包括测试所述材料的电导率以鉴定所述产品的真伪。

23.权利要求15的方法，进一步包括使用电子显微镜法观察所述材料以确定所述碳纳米管的结构特性的存在，从而鉴定所述产品的真伪。