[发明专利]一种测量参考节点位置的方法、装置及系统有效
申请号: | 201310100380.1 | 申请日: | 2013-03-26 |
公开(公告)号: | CN104076325B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 周波;黄新华;杨艳 | 申请(专利权)人: | 日电(中国)有限公司 |
主分类号: | G01S5/00 | 分类号: | G01S5/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 张耀光 |
地址: | 100191 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 参考 节点 位置 方法 装置 系统 | ||
技术领域
本发明涉及计算机领域,特别涉及一种测量参考节点位置的方法、装置及系统。
背景技术
随着定位技术的快速发展,目前出现了室内定位技术,室内定位技术是通过室内定位系统来对位于室内的目标进行定位。室内定位系统在对目标进行定位时,需要使用位置已知的室内的参考节点来完成对目标的定位,因此在室内定位系统对目标进行定位之前,需要测量出位于室内的各参考节点的位置。
其中,目前通过人工测量方式来测量出位于室内的各参考节点的位置,可以为:测量人员可以通过咫尺或激光测距仪等测量工具,测量出位于室内的各参考节点的位置;然后,测量人员再将自己测量出的各参考节点的位置输入到室内定位系统中,以供室内定位系统在对目标进行定位时使用。
在实现本发明的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
现有技术通过人工测量出室内的各参考节点的位置,不仅存在较大的误差,还需要较长的时间,使得测量参考节点的位置的精度和效率都较低。
发明内容
为了提高测量参考节点的位置的精度和效率,本发明提供了一种测量参考节点位置的方法、装置及系统。所述技术方案如下:
一方面,一种用于测量参考节点位置的系统,所述系统包括:信号发射装置和信号接收装置;
所述信号发射装置安装在待测量的参考节点上;
所述信号接收装置沿第一坐标系的一坐标轴滑动,并在滑动时分多次接收所述信号发射装置发射的发射信号。
另一方面,一种通过所述的系统来测量参考节点位置的方法,所述方法包括:
当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;
根据所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。
另一方面,一种通过所述的系统来测量参考节点位置的装置,所述装置包括:
第一获取模块,用于当信号接收装置在第一坐标系的一坐标轴上滑动并分多次接收信号发射装置发射的发射信号时,获取所述信号接收装置每次接收所述发射信号时在所述第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离;
第二获取模块,用于根据所述第一获取模块获取的所述每个位置和在所述每个位置处所述信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取所述待测量的参考节点在标准坐标系中的位置。
在本发明实施例中,由于获取到信号接收装置每次接收发射信号时在第一坐标系中的位置以及在获取的每个位置处信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,根据每个位置和在每个位置处信号接收装置与待测量的参考节点之间的距离,获取待测量的参考节点在标准坐标系中的位置,从而实现自动测量出待测量的参考节点的位置,提高了测量参考节点位置的精度和效率。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种用于测量参考节点位置的系统第一结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种用于测量参考节点位置的系统第二结构示意图;
图3是本发明实施例提供的一种用于测量参考节点位置的系统第三结构示意图;
图4是本发明实施例提供的一种测量参考节点位置的方法流程图;
图5是本发明另一实施例提供的一种测量参考节点位置的方法流程图;
图6是本发明实施例提供的第一坐标系与标准坐标系位置关系示意图;
图7是本发明实施例提供的另一第一坐标系与标准坐标系位置关系示意图;
图8是本发明实施例提供的一种测量参考节点位置的装置结构示意图;
图9是本发明实施例提供的一种第二获取模块的结构示意图;
图10是本发明实施例提供的一种第一获取模块的第一结构示意图;
图11是本发明实施例提供的一种第一获取模块的第二结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
参见图1至3,本发明实施例提供了一种用于测量参考节点位置的系统,包括:信号发射装置1和信号接收装置2;
信号发射装置1安装在待测量的参考节点上;
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