[发明专利]NMOS和PMOS器件结构及设计方法无效
申请号: | 201310098874.0 | 申请日: | 2013-03-26 |
公开(公告)号: | CN103151385A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 卜建辉;毕津顺;罗家俊;韩郑生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/762 |
代理公司: | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人: | 朱海波;何平 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | nmos pmos 器件 结构 设计 方法 | ||
1.一种NMOS器件结构,其中:
垂直沟道方向的STI宽度具有最小设计规则尺寸;延沟道方向的STI宽度也具有最小设计规则尺寸。
2.根据权利要求1所述的NMOS器件结构,其中NMOS器件为H型栅NMOS器件。
3.一种PMOS器件结构,其中
垂直沟道方向的STI宽度具有最小设计规则尺寸;延沟道方向的STI宽度在最小设计规则尺寸的4到7倍之间。
4.根据权利要求3所述的PMOS器件结构,其中延沟道方向的STI结构的宽度是最小设计规则尺寸的5倍。
5.根据权利要求3所述的PMOS器件结构,其中PMOS器件为H型栅PMOS器件。
6.一种NMOS器件的设计方法,其中,
减小NMOS器件垂直沟道方向以及沿沟道方向的的STI宽度。
7.根据权利要求6所述的方法,其中将NMOS器件设计为垂直沟道方向的STI宽度具有最小设计规则尺寸;延沟道方向的STI宽度也具有最小设计规则尺寸。
8.一种PMOS器件的设计方法,其中,
减小PMOS器件垂直沟道方向的STI宽度并增加PMOS器件沿沟道方向的STI宽度。
9.根据权利要求8所述的方法,其中将PMOS器件设计为垂直沟道方向的STI宽度具有最小设计规则尺寸;延沟道方向的STI宽度在最小设计规则尺寸的4到7倍之间。
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