[发明专利]一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法及装置

权利要求书

1.一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，包括步骤：

A、在垂直于原始的X射线图像的滤线栅的栅纹方向上对原始的X射线图像进行一维高通滤波，得到第一栅纹图像；

B、去除第一栅纹图像中组织边缘的图像，得到第二栅纹图像；

C、根据连续栅纹的长度特征确定，在第二栅纹图像确定并保留滤线栅的栅纹，得到第三栅纹图像；

D、根据原始的X射线图像在像素点(x，y)处的灰度值确定系数矩阵T，将第三栅纹图像与系数矩阵T对应点相乘得到第四栅纹图像；

E、在原始的X射线图像中减去第四栅纹图像，得到抑制滤线栅伪影后的X射线图像。

2.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，步骤B具体包括：

计算第一栅纹图像中像素点的灰度最大值Max，设定阈值TH1＝a*MAX，其中a为介于0～1之间的常数；

若第一栅纹图像中像素点(x，y)的灰度值B(x，y)＞TH1，则在第一栅纹图像中将其去除，得到第二栅纹图像。

3.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，a＝0.2。

4.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，步骤B具体包括：

根据提取出的栅纹长度特性，设定阈值TH2；

在第二栅纹图像中连续栅纹的长度记为L(x)，假如L(X)＜TH2，则在第二栅纹图像中将其去除，得到第三栅纹图像。

5.根据权利要求4所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，TH2＝5。

6.根据权利要求1所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，根据X射线图像A的像素点(x，y)处的灰度值，利用下式确定系数矩阵T：

T(x,y)=0A(x,y)<=X11A(x,y)>=X2(A(x,y)-X1)/(X2-X1)else;]]>

X1＝InputTH1*Temp+SrcMin；

X2＝InputTH2*Temp+SrcMin；

Temp＝(SrcMax-SrcMin)/10；

其中SrcMax和SrcMin分别为原始的X射线图像中像素点灰度值的最大值和最小值，InputTH1和InputTH2介于1～10。

7.根据权利要求6所述一种X射线图像中滤线栅伪影的抑制方法，其特征在于，InputTH1＝2，InputTH2＝5。