[发明专利]用于紫外消毒柜的智能监控系统无效

专利信息
申请号: 201310098386.X 申请日: 2013-03-26
公开(公告)号: CN103143046A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 王平;郑伟波;朱鹏;李向阳;张涛;马文超;闫梅 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: A61L2/24 分类号: A61L2/24;A61L2/28
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 紫外 消毒柜 智能 监控 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种电子智能监控系统,具体涉及一种用于紫外消毒柜的智能监控系统。

背景技术

在紫外消毒柜中,细菌或病毒的灭活率与紫外强度及其照射剂量直接相关。紫外强度低于一定值,不能造成细菌或病毒生长性死亡和(或)再生性死亡;紫外照射剂量低于一定值,有可能出现光复活现象,即病菌不能被彻底杀死。紫外灯管自身固有的老化衰减,会造成紫外强度降低30%~50%,从而使紫外强度和照射剂量不能达到要求,造成消毒效果不理想,甚至根本起不到消毒的效果。为此,需要监测消毒柜的紫外强度及其实际照射剂量,本发明申请前,已经有人关注到这一产品需求,有些紫外消毒柜已经具备紫外强度、照射剂量测量等功能,并申请了专利。但是,他们并没有实际解决标准紫外强度检测的问题。国家卫生部对紫外线消毒颁布的标准是“距离紫外灯管1米处,紫外线强度不低于70微瓦/平方厘米。”而普通消毒柜的内部尺寸都不足1米,任何测量到的紫外强度都不可能是在1米距离处测量得到的,所以他们所测量的紫外强度都不是标准紫外强度。

我们采用激光测距仪作为校准手段,将所测量到的紫外线强度换算为距离紫外灯管1米处的紫外线强度(称为标准紫外线强度)。采用这个标准紫外强度与70微瓦/平方厘米的国家标准进行对比,衡量消毒柜的消毒效果才是有意义的。

因此,本发明可以真正提升紫外消毒柜的品质,为饮食安全起到一定的作用。

发明内容

本发明的内容在于提供一种用于紫外消毒柜的智能监控系统,通过检测消毒柜工作时的标准紫外强度、标准照射剂量等物理量,判断消毒柜的消毒效果和紫外灭菌灯管的衰减状态,提升消毒柜的智能控制功能,加强消毒柜的消毒效果。

本发明“用于紫外消毒柜的智能监控系统”,如图1所示,1为激光测距仪,2为紫外传感器,3为主控系统,4为显示屏。激光测距仪采用普通激光测距仪;紫外传感器采用氮化镓基日盲型紫外传感器;主控系统为自行研制的专用控制电路,组成框图如图2所示,其中3-1为紫外传感器接口,3-2为前置放大电路,3-3为单片机,5V供电,自带AD功能、程序存储器和异步串行传输接口;显示屏采用普通液晶显示屏。

紫外传感器通过其固定机构安装在紫外灭菌灯管上,传感器窗口指向灯管,通过两根信号线连接到主控系统,将测得的紫外线强度数值传输到主控系统;激光测距仪测量出传感器到灯管的距离,将距离数值传输到主控系统;主控系统通过前置放大、数字转换和算法处理,将检测到的紫外强度、照射剂量换算为标准紫外强度和标准照射剂量,判断出消毒柜的消毒效果和是否需要更换灭菌灯管,再将这些信息通过控制线传输给显示屏,并控制紫外灭菌灯管的开关和消毒工作的中断;显示屏将主控系统传输来的信息显示出来。

附图说明

图1用于紫外消毒柜的智能监控系统组成示意图。

图2主控系统组成示意图。

具体实施方式

结合具体实施例本发明技术方案具体描述如下:

本发明“用于紫外消毒柜的智能监控系统”,如图1所示,1为激光测距仪,2为紫外传感器,3为主控系统,4为显示屏。激光测距仪采用普通激光测距仪;紫外传感器采用氮化镓基日盲型紫外传感器;主控系统为自行研制的专用控制电路,组成框图如图2所示,其中3-1为紫外传感器接口,型号为普通K9接口;3-2为前置放大电路,型号为AM358;3-3为单片机,型号为STC12C5A60S2,5V供电,自带AD功能、程序存储器和异步串行传输接口;显示屏采用9寸普通液晶显示屏。

紫外传感器通过其固定机构安装在紫外灭菌灯管上,传感器窗口指向灯管,通过两根信号线连接到主控系统,将测得的紫外线强度数值传输到主控系统;激光测距仪测量出传感器到灯管的距离,将距离数值传输到主控系统;主控系统通过前置放大、数字转换和算法处理,将检测到的紫外强度、照射剂量换算为标准紫外强度和标准照射剂量,判断出消毒柜的消毒效果和是否需要更换灭菌灯管,再将这些信息通过控制线传输给显示屏,并控制紫外灭菌灯管的开关和消毒工作的中断;显示屏将主控系统传输来的信息显示出来。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310098386.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top