[发明专利]用于紫外消毒柜的智能监控系统无效
申请号: | 201310098386.X | 申请日: | 2013-03-26 |
公开(公告)号: | CN103143046A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 王平;郑伟波;朱鹏;李向阳;张涛;马文超;闫梅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | A61L2/24 | 分类号: | A61L2/24;A61L2/28 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 紫外 消毒柜 智能 监控 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种电子智能监控系统,具体涉及一种用于紫外消毒柜的智能监控系统。
背景技术
在紫外消毒柜中,细菌或病毒的灭活率与紫外强度及其照射剂量直接相关。紫外强度低于一定值,不能造成细菌或病毒生长性死亡和(或)再生性死亡;紫外照射剂量低于一定值,有可能出现光复活现象,即病菌不能被彻底杀死。紫外灯管自身固有的老化衰减,会造成紫外强度降低30%~50%,从而使紫外强度和照射剂量不能达到要求,造成消毒效果不理想,甚至根本起不到消毒的效果。为此,需要监测消毒柜的紫外强度及其实际照射剂量,本发明申请前,已经有人关注到这一产品需求,有些紫外消毒柜已经具备紫外强度、照射剂量测量等功能,并申请了专利。但是,他们并没有实际解决标准紫外强度检测的问题。国家卫生部对紫外线消毒颁布的标准是“距离紫外灯管1米处,紫外线强度不低于70微瓦/平方厘米。”而普通消毒柜的内部尺寸都不足1米,任何测量到的紫外强度都不可能是在1米距离处测量得到的,所以他们所测量的紫外强度都不是标准紫外强度。
我们采用激光测距仪作为校准手段,将所测量到的紫外线强度换算为距离紫外灯管1米处的紫外线强度(称为标准紫外线强度)。采用这个标准紫外强度与70微瓦/平方厘米的国家标准进行对比,衡量消毒柜的消毒效果才是有意义的。
因此,本发明可以真正提升紫外消毒柜的品质,为饮食安全起到一定的作用。
发明内容
本发明的内容在于提供一种用于紫外消毒柜的智能监控系统,通过检测消毒柜工作时的标准紫外强度、标准照射剂量等物理量,判断消毒柜的消毒效果和紫外灭菌灯管的衰减状态,提升消毒柜的智能控制功能,加强消毒柜的消毒效果。
本发明“用于紫外消毒柜的智能监控系统”,如图1所示,1为激光测距仪,2为紫外传感器,3为主控系统,4为显示屏。激光测距仪采用普通激光测距仪;紫外传感器采用氮化镓基日盲型紫外传感器;主控系统为自行研制的专用控制电路,组成框图如图2所示,其中3-1为紫外传感器接口,3-2为前置放大电路,3-3为单片机,5V供电,自带AD功能、程序存储器和异步串行传输接口;显示屏采用普通液晶显示屏。
紫外传感器通过其固定机构安装在紫外灭菌灯管上,传感器窗口指向灯管,通过两根信号线连接到主控系统,将测得的紫外线强度数值传输到主控系统;激光测距仪测量出传感器到灯管的距离,将距离数值传输到主控系统;主控系统通过前置放大、数字转换和算法处理,将检测到的紫外强度、照射剂量换算为标准紫外强度和标准照射剂量,判断出消毒柜的消毒效果和是否需要更换灭菌灯管,再将这些信息通过控制线传输给显示屏,并控制紫外灭菌灯管的开关和消毒工作的中断;显示屏将主控系统传输来的信息显示出来。
附图说明
图1用于紫外消毒柜的智能监控系统组成示意图。
图2主控系统组成示意图。
具体实施方式
结合具体实施例本发明技术方案具体描述如下:
本发明“用于紫外消毒柜的智能监控系统”,如图1所示,1为激光测距仪,2为紫外传感器,3为主控系统,4为显示屏。激光测距仪采用普通激光测距仪;紫外传感器采用氮化镓基日盲型紫外传感器;主控系统为自行研制的专用控制电路,组成框图如图2所示,其中3-1为紫外传感器接口,型号为普通K9接口;3-2为前置放大电路,型号为AM358;3-3为单片机,型号为STC12C5A60S2,5V供电,自带AD功能、程序存储器和异步串行传输接口;显示屏采用9寸普通液晶显示屏。
紫外传感器通过其固定机构安装在紫外灭菌灯管上,传感器窗口指向灯管,通过两根信号线连接到主控系统,将测得的紫外线强度数值传输到主控系统;激光测距仪测量出传感器到灯管的距离,将距离数值传输到主控系统;主控系统通过前置放大、数字转换和算法处理,将检测到的紫外强度、照射剂量换算为标准紫外强度和标准照射剂量,判断出消毒柜的消毒效果和是否需要更换灭菌灯管,再将这些信息通过控制线传输给显示屏,并控制紫外灭菌灯管的开关和消毒工作的中断;显示屏将主控系统传输来的信息显示出来。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310098386.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。