[发明专利]一种利用X射线荧光光谱分析高钛渣中元素含量的方法

权利要求书

1.一种利用X射线荧光光谱分析高钛渣中元素的方法，所述的元素为钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰和铜，其特征在于，所述的方法包括有如下的步骤：

1）校准样品的制备：

配制用于建立校准曲线的校准样品，校准样品分别包含有不同种类、不同含量的元素；其中的元素为钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素中的任一种或几种；

2）制备校准样品样片 

将灼烧后的校准样品和熔剂混合后，高温下熔融，混均后倒入已预热的铂-金模具中，冷却制成校准样品样片；

3）校准曲线的建立

利用X射线荧光光谱仪分别测定所制备校准样品样片中钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素的荧光强度值，利用理论α系数进行元素之间的校正，建立元素含量与校正后荧光强度值的校准曲线；获得校准曲线的斜率和截距；

4）待测样品元素的测定

按照步骤2）制备校准样品样片的方法制备待测样品样片，再利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片，获得钛、铁、钙、镁、铝、硅、磷、钾、钒、锰、铜元素校正后的荧光强度值，计算灼烧后待测样品的元素含量，最终获得烧失量校正后的待测样品中的元素含量值，所用到的公式如下：

Ex=(a×Ic+b)---(1)]]>

其中，a: 校准曲线斜率；b: 校准曲线截距；I_C: 元素校正后荧光强度Kcps；

E_x: 灼烧后的待测样品的元素含量；

Ecx=Ex(100-LOI)/100---(2)]]>

其中，E_cx: 烧失量校正后元素含量；LOI: 样品烧失量（%）；

LOI=m0-m1m0×100---(3)]]>

其中，m₀：初始样品质量; m₁：灼烧后样品质量。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述的步骤2）中熔剂为四硼酸锂、三氧化二铁、二氧化硅的混合物。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述的四硼酸锂、三氧化二铁、二氧化硅的质量比为16:1:1。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述的步骤2）中熔剂与样品的质量比为15:1。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述的步骤2）中高温熔融的温度为1050℃，熔融时间为20min。