[发明专利]基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统

权利要求书

1.一种基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统，其特征在于：其包括水冷真空室（1）、真空辐射加热单元、有效辐射腔体（5）以及辐射测量与标定单元，所述真空辐射加热单元固定设置在所述水冷真空室（1）内，所述有效辐射腔体（5）可移动地设置在所述真空辐射加热单元的一侧，测试样品设置在所述真空辐射加热单元和所述有效辐射腔体（5）之间，所述有效辐射腔体（5）靠近测试样品的一端设有大开口（6），所述有效辐射腔体（5）远离测试样品的一端设有小开口（7），所述水冷真空室（1）靠近所述小开口（7）的一端设置有光学窗口（8）且辐射测量时所述小开口（7）和所述光学窗口（8）相对，所述辐射测量与标定单元设置在所述水冷真空室（1）的外侧通过所述光学窗口（8）进行辐射测量和数据处理。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述水冷真空室（1）的内壁具有冷却水夹层。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于：所述水冷真空室（1）的内壁上和所述有效辐射腔体（5）的外壁具有吸收涂层。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述有效辐射腔体（5）的内壁上具有反射涂层。

5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于：所述有效辐射腔体（5）的外壁上设置有冷却水盘管。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述真空辐射加热单元包括钨板（2）和设置在所述钨板（2）两端的大电流水冷电极（3）。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于：所述钨板（2）上开设有槽（9）或孔。

8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于：所述大开口（6）和所述小开口（7）为圆形，所述大开口（6）和所述小开口（7）的直径比大于3:1。

9.根据权利要求1-8任一项所述的测试系统，其特征在于：所述有效辐射腔体（5）通过设置在所述水冷真空室（1）内的电动平移滑台在三维方向上移动。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于：所述辐射测量与标定单元包括可见-近红外光谱仪和数据处理模块，所述数据处理模块与所述可见-近红外光谱仪连接，用于样品表面辐射的测量以及样品发射率的标定计算。