[发明专利]记录装置和记录方法有效
| 申请号: | 201310092856.1 | 申请日: | 2013-03-21 |
| 公开(公告)号: | CN103366767B | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
| 发明(设计)人: | 中室英之;永友孝志;入山利久 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | G11B7/0045 | 分类号: | G11B7/0045;G11B7/242;G11B7/126 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 记录 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及记录装置及其记录方法。
背景技术
作为通过光照射对其进行信号记录或再现的光学记录介质,已广泛使用所谓的光盘记录介质(下文简称光盘),比如致密光盘(CD)、数字通用光盘(DVD)以及蓝光光盘(BD:登记商标)(例如,参阅日本专利申请特开2000-40310号公报)。
在光盘中,例如,可能鉴于光盘的缺陷执行替换处理。
图31(A)及图31(B)是示出了在相关技术的光盘中执行的替换处理的实例的示意图。
具体地,图31(A)及图31(B)是示出了在BD中执行的使用备用区的替换处理的概要的示意图。
首先,假设对光盘执行记录和再现的驱动设备的主机装置利用基于逻辑扇区号(LSN)的逻辑地址管理该光盘上的记录区。在定义了向LSN管理的逻辑地址空间(对应于数据区)添加至少备用区的物理地址空间的状态下,驱动设备利用充当物理地址的物理扇区号(PSN)管理该光盘上的记录区。
例如,如图31(A)所示,当光盘上的某一区段出现缺陷D时,就执行用备用区替换要被记录在该区段上的数据的记录区的替换处理。
在图31(A)的实例中,PSN_A与PSN_B的区段变成缺陷区段,进而用备用区替换要被记录在PSN_A与PSN_B的该区段上的数据的记录区。
在BD中,利用图31(B)中所示的缺陷列表(DFL)(或临时缺陷列表(TDFL))执行有关利用备用区替换记录区的管理。
具体地,该缺陷列表是一种替换源的PSN以及替换目的地的PSN彼此相关联的列表,如图31(B)所示。
具体地,当记录过程中出现缺陷D时,在备用区中确保用于替换的区域。例如,如图31(A)所示,在备用区中确保PSN_X与PSN_Y的区域。
在这种情况下,在缺陷列表中,将要成为缺陷D出现区段的PSN_A及PSN_B登记为替换源PSN的信息,备用区中确保的PSN_X及PSN_Y登记为替换目的地PSN的信息。
将缺陷列表记录到光盘上,从而适当地再现数据,当执行再现时,参照缺陷列表利用备用区替换数据的记录区。
发明内容
然而,根据使用上述备用区的替换方法,为缺陷D的每个发生区段产生相对于备用区的寻道。由于该寻道,记录速率可能在记录时降低并且再现速率可能在再现时降低。
需要实现一种寻道距离可以得到抑制的有效替换处理。
根据本技术的第一实施方式,提供了一种记录装置,包括:对光学记录介质照射光的光照射单元;对所述光照射单元执行发光控制并对所述光学记录介质执行记录的记录单元;以及控制单元,其控制所述记录单元使得在相对于所述光学记录介质的记录区定义了逻辑地址空间以及通过向所述逻辑地址空间添加至少备用区和缓冲区而获得的物理地址空间的状态下,根据缺陷的出现从跨过缺陷出现区的位置开始记录剩余数据,并控制所述记录单元,使得当缓冲区被消耗并且数据没有完全被记录时,用备用区替换没有完全被记录的剩余数据的记录区并将剩余数据记录在所述备用区上。
如上所述,在本发明中,根据缺陷的出现执行所谓的滑动替换,其中从跳过缺陷出现区的位置开始执行剩余数据的记录。结果,与仅执行用备用区替换记录区的情况相比,寻道距离可得到抑制。因此,可以抑制记录速率/再现速率降低。
在本发明中,当滑动替换消耗了缓冲区并且数据没有完全被记录时,用备用区替换未被记录的剩余数据的记录区。结果,可以确保剩余数据的读/写连续性(不执行长距离寻道的连续性)。因此,在这方面取得抑制记录/再现速率降低的效果。
根据上述本发明的实施方式,可以实现一种寻道距离可以得到抑制的有效替换处理。
附图说明
图1是示出了根据实施方式的记录介质的剖面结构的示意图;
图2是示出了使用在基准面上形成的位置导向器的位置控制方法的示意图;
图3(A)至3(C)是示出了物镜的透镜偏移导致信息记录位置偏差的原理的示意图;
图4是示出了ATS的示意图;
图5是示出了假设ATS时要照射到记录介质上的每个激光的实例的示意图;
图6(A)及图6(B)是示出了开始基于ATS的记录时的写入方法的实例的示意图;
图7是示出了配置ATS时出现的问题的示意图;
图8是示出了ATS+概念的示意图;
图9是根据实施方式的记录介质的基准面的一部分的放大视图(平面图);
图10是示出了整个基准面上的凹坑的具体形成方法的示意图;
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