[发明专利]高压发光二极管芯片及其制造方法无效
| 申请号: | 201310091232.8 | 申请日: | 2013-03-21 |
| 公开(公告)号: | CN103187494A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
| 发明(设计)人: | 郭金霞;闫建昌;伊晓燕;田婷;詹腾;赵勇兵;宋昌斌;王军喜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/20;H01L27/15 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
| 地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高压 发光二极管 芯片 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种高压倒装结构发光二极管芯片。更具体而言,本发明涉及一种具有绝缘缓冲层的高压LED芯片结构及其制造方法。
背景技术
发光二极管(LED)具有寿命长、节能、环保、色彩丰富的优点,因此,随着外延、芯片、封装等技术的发展,发光效率的进一步提高,LED已经被逐步用于照明、显示、医疗等各个领域。传统的氮化镓基发光二极管工作在直流电压下,电压范围在2.9-3.5V,工作电流通常为20mA。为了让发光二极管达到普通照明所需的亮度,一般要将LED芯片的工作电流提高到100mA以上,目前常用的有100mA,350mA和700mA。当把LED用于普通照明时,需要220V-380V左右的交流市电驱动,如果采用大电流的高功率LED芯片,驱动装置中需要一个较大的变压器,同时需要通过滤波整流电路将交流电转变成直流电,从而导致整个LED灯具体积较大,寿命也由于电解电容(寿命仅为2000-5000小时)的引入而大大降低。此外,大电流驱动导致的线损也比较高,从而导致浪费的能耗增加,灯具散热的负担也增加。
在美国专利US6787999中,将许多独立封装好的单个发光二极管采用串联的方式安装在PCB基板上来形成高压发光二极管阵列,用于高压场合。这种方案可以省去体积较大的变压器,也可以降低工作电流。但是该方案使得发光模组的体积大大增加,而且由于每个管芯再通过引线互连,散热性能和可靠性下降。
在中国发明专利申请CN102867837A中公开了一种在蓝宝石衬底上通过深槽隔离的LED阵列,实现了芯片级的LED集成,减小了发光模组的封 装体积,采用芯片级金属层互连取代了引线互连,提高了LED阵列的可靠性。但是,在该现有技术方案中,如图1,由于要将外延层从p型层13刻蚀到蓝宝石衬底10,需要刻蚀深度为4-7um的隔离深槽101,使得每个LED单元100之间的互连线20由于爬过如此深的隔离深槽101而可靠性变差,从而导致高压LED芯片的成品率很低,在高压下工作寿命也大大降低,而深刻蚀工艺过程和为实现安全互连的加厚电极工艺增加了高压LED的制造成本,这些问题大大影响了高压LED的产业化和市场化进程,导致高压LED目前的市场使用率仍然很低;此外,深槽刻蚀需要的时间比较长,当采用ICP刻蚀时,长时间的等离子轰击会对LED有源区造成损伤,降低LED的发光亮度。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种具有绝缘缓冲层的高压LED芯片及其制造方法,其可减少长时间的等离子轰击对LED有源区造成损伤,提高LED的发光亮度。
本发明提供一种高压发光二极管芯片的制作方法,包括:
在衬底形成绝缘缓冲层;
在绝缘缓冲层上形成n型半导体层、有源层和p型半导体层;
图形化后蚀刻所述n型半导体层、有源层和p型半导体层形成沟槽,直至沟槽底部暴露出绝缘缓冲层,从而形成多个通过沟槽隔离的发光单元;
形成金属互连线,将相邻发光单元串联起来;其特征在于:
所述沟槽的深度为2.5um-4um。
本发明还提供一种高压发光二极管芯片,包括:
衬底和在所述衬底上的外延缓冲层;
在外延缓冲层上具有多个发光单元,发光单元之间通过外延缓冲层上方的隔离沟槽分离;每个发光单元包含n型半导体层、有源层和p型半导体层;
金属互连线,将相邻发光单元串联起来;其特征在于:
所述外延缓冲层为绝缘缓冲层,并且所述n型半导体层、有源层和p 型半导体层的总厚度为2.5um-4um。
本发明的有益效果是:该高压LED芯片采用绝缘缓冲层,衬底上方的LED外延层厚度约2.5-4um,深槽只需刻蚀到绝缘缓冲层,而无需刻蚀到衬底,从而大大降低深槽的刻蚀深度,芯片单元之间经过深槽的互连线层可以做得比较薄,在降低制造成本的前提下互连线的可靠性也大大提高,同时可降低长时间干法蚀刻对LED的损伤。
附图说明
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明,其中:
图1为现有技术中高压LED芯片结构示意图;
图2-图5为根据本发明第一实施例的制备高压LED芯片的工艺过程示意图;
具体实施方式
下面结合图2至图5和实施例对本发明作进一步说明。
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