[发明专利]一种高钙线取制样及测定方法

权利要求书

1.一种高钙线取制样及测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

用切管器从高钙线中取样，得到用于测定钙纯度的待测试样和用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样；

测定高钙线的钙纯度，包括：用电感耦合等离子体发射光谱仪测定所述用于测定钙纯度的待测试样的杂质的含量；得到所述用于测定钙纯度的待测试样的钙纯度，钙纯度=100-w，其中w为钙中杂质的百分含量；

测定高钙线的芯粉的单位长度的填充质量，包括：称量所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样的质量m₀和长度l；将所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样置于水中，使钙线中的钙完全反应；取出铁皮，擦干所述铁皮后称量所述铁皮的质量m₁；采用得到芯粉的单位长度的填充质量m。

2.如权利要求1所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于，所述用切管器从高钙线中取样包括：

将桌虎钳固定在工作台上；

将所述高钙线置于所述桌虎钳的卡口处，所述高钙线露出所述卡口的外端8公分；

将切管器卡在所述高钙线的前端进行切割，得到环形切割段，所述环形切割段作为所述用于测定芯粉的单位长度的填充质量的待测试样。

3.如权利要求2所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于，所述得到用于测定钙纯度的待测试样包括：

用钢锯沿所述环形切割段的轴线方向进行切割；

用斜口钳、一字螺丝刀将所述环形切割段的铁皮剥离；

用胡桃钳、一字螺丝刀取得适量的芯粉样品，放入洁净干燥的容器内；

用磁铁去除所述芯粉样品内的铁质粉末，并去除其他杂质，得到所述用于测定钙纯度的待测试样。

4.如权利要求3所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于：所述环形切割段的宽度为3-4mm，切割厚度为铁皮厚度。

5.如权利要求4所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于：所述环形切割段的长度为20cm。

6.如权利要求5所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于，所述用电感耦合等离子体发射光谱仪测定所述用于测定钙纯度的待测试样的杂质的含量包括：

称取一定量的所述用于测定钙纯度的待测试样，用酸溶解得到待测溶液；

制备标准溶液，确定标准工作曲线；

将所述待测溶液引入电感耦合等离子体发射光谱仪，根据所述标准工作曲线测定所述杂质的含量。

7.如权利要求6所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于，所述制备标准溶液包括：取六份10ml钙标准溶液于100ml容量瓶中，加入杂质标准溶液，用水稀释至刻度，杂质的质量百分含量依次为0、0.005、0.010、0.025、0.050、0.1，钙标准溶液的浓度为10mg/ml。

8.如权利要求7所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于，所述待测试样中的杂质包括：铬、镍、铜、锰、镁、铁和铝。

9.如权利要求8所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于：铬标准溶液的浓度为100μg/ml，镍标准溶液的浓度为100μg/ml，铜标准溶液的浓度为100μg/ml，锰标准溶液的浓度为100μg/ml，镁标准溶液的浓度为100μg/ml，铁标准溶液的浓度为100μg/ml，铝标准溶液的浓度为100μg/ml。

10.如权利要求9所述的高钙线取制样及测定方法，其特征在于：钙纯度=100-(w_Cr+w_Ni+w_Cu+w_Mn+w_Mg+w_Fe+w_Al)，其中w_Ni为钙中杂质镍的质量百分含量，w_Mn为钙中杂质锰的质量百分含量，w_Cr为钙中杂质铬的质量百分含量，w_Mg为钙中杂质镁的质量百分含量，w_Cu为钙中杂质铜的质量百分含量，w_Al为钙中杂质铝的质量百分含量，w_Fe为钙中杂质铁的质量百分含量。