[发明专利]一种水印嵌入和提取方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310086911.6 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN104063832B 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 董宁;岳铁铸;徐剑波 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;北京方正阿帕比技术有限公司
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 郭润湘
地址: 100871 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 水印 嵌入 提取 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种水印嵌入方法,其特征在于,包括:

根据获取的待嵌入水印的图像,得到设定大小的图像子块,并对得到的所述图像子块在三基色RGB空间的选定通道进行离散余弦变换DCT;

在DCT后的所述图像子块的选定通道的低频系数中嵌入水印;

选取DCT后互不相邻的图像子块,将所述图像子块的直流分量按照第二扩大倍数扩大,以使嵌入底纹;

将没有选取的图像子块的直流分量按照第三扩大倍数扩大,以使嵌入底纹;

对嵌入水印和底纹的所述图像子块的选定通道进行反DCT,得到嵌入水印的图像。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在DCT后的所述图像子块的选定通道的低频系数中嵌入水印,具体包括:

确定获取的水印图像的二值图的待嵌入水印像素点序列,以及在DCT后的所述图像子块选定通道的低频系数中确定待嵌入点序列;

根据确定的所述待嵌入水印像素点序列和所述待嵌入点序列,确定待嵌入点要嵌入的待嵌入水印像素点;

根据待嵌入水印像素点的像素值、待嵌入水印的强度和待嵌入点的基准值,得到待嵌入点的嵌入值。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据待嵌入水印像素点的像素值、待嵌入水印的强度和待嵌入点的基准值,得到待嵌入点的嵌入值,具体包括:

获取待嵌入点的相邻四个点的绝对值的均值作为待嵌入点的基准值;

根据待嵌入水印像素点的像素值和待嵌入水印的强度,确定待嵌入点的基准值的第一扩大倍数;

将待嵌入点的基准值按照第一扩大倍数扩大后,得到待嵌入点的嵌入值的绝对值,待嵌入点的嵌入值的符号与待嵌入点原始值的符号一致;

根据待嵌入点的嵌入值的绝对值和嵌入值的符号,得到待嵌入点的嵌入值。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据待嵌入水印像素点的像素值和待嵌入水印的强度,确定待嵌入点的基准值的第一扩大倍数,具体包括:

若待嵌入水印像素点的像素值为1,第一扩大倍数为1与待嵌入水印的强度之和;

若待嵌入水印像素点的像素值为0,第一扩大倍数为1与待嵌入水印的强度之差。

5.一种水印提取方法,其特征在于,包括:

获取待提取水印图像在RGB空间的三个通道;

将获取的所述三个通道的颜色值两两作差,确定所述三个通道中与另外两个通道的颜色值的差值都不为0的通道为嵌入底纹的通道;

根据确定出的嵌入底纹的通道,提取获取的待提取水印图像中的底纹;

根据提取的所述底纹分割待提取水印图像,得到设定大小的图像子块,并对得到的所述图像子块在RGB空间的嵌入底纹的通道进行离散余弦变换DCT;

在DCT后所述图像子块嵌入底纹的通道的低频系数中提取水印。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据确定出的嵌入底纹的通道,提取获取的待提取水印图像中的底纹,具体包括:

根据确定出的嵌入底纹的通道和另一个通道的颜色值的差值矩阵,确定底纹的峰值位置和相邻峰值之间的间隔;

根据确定出的底纹的峰值位置和相邻峰值之间的间隔,提取待提取水印图像的底纹。

7.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述在DCT后所述图像子块嵌入底纹的通道的低频系数中提取水印,具体包括:

获取DCT后所述图像子块嵌入底纹的通道的低频系数中的嵌入点序列,以及每个水印嵌入点的嵌入值;

根据每个所述嵌入点的嵌入值与该嵌入点的基准值,确定嵌入水印像素点的像素值;

根据所述嵌入点序列、嵌入水印像素点的像素值和嵌入水印像素点序列,提取水印。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述根据每个所述嵌入点的嵌入值与该嵌入点的基准值,确定嵌入水印像素点的像素值,具体包括:

获取每个嵌入点的相邻四个点的绝对值的均值作为该嵌入点的基准值;

判断每个嵌入点的嵌入值是否大于该嵌入点的基准值,若是,该嵌入点的水印像素点的像素值为1;否则,该嵌入点的水印像素点的像素值为0。

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