[发明专利]基于光电耦合器的线性电压检测方法在审
申请号: | 201310083980.1 | 申请日: | 2013-03-12 |
公开(公告)号: | CN104049125A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 陈庭勋 | 申请(专利权)人: | 浙江海洋学院;陈庭勋 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 316000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 光电 耦合器 线性 电压 检测 方法 | ||
1.基于光电耦合器的线性电压检测方法,其特征是:采用运算放大器,成双的光电耦合集成器等,通过其中一对光电耦合器构成深度电流负反馈,通过电阻电容器件组成深度电压负反馈,整体组成具有双闭环结构的深度负反馈电压-电流变换电路,由此方法消除光电耦合器带来的非线性失真现象,由另一对电流传输特性完全相同的光电耦合器以电流形式隔离输出;在运算放大器输出电流支路中设置比例微分电路,在运算放大器的输出端与反相端之间再并联阻容比例微分电路,由此方法前移光电耦合器驱动电流,弥补高频段的信号传输相位滞后问题;在运算放大器的工作状态设置上,预先给运算放大器一个静态电流,并且将运算放大器的电压增益设置成小于1,运算放大器输入端口电位设置在运算放大器供电电压的中间值附近。
2.根据权利要求1所述的基于光电耦合器的线性电压检测方法,其特征是所采用的运算放大器适合被子测信号频率工作,双光电耦合器是同一个集成器件,两个光电耦合器的电流传输特性一致。
3.根据权利要求1所述的基于光电耦合器的线性电压检测方法,其特征是光电耦合器等器件信号传输中相位滞后问题,采用比例微分电路前移光电耦合器驱动电流相位的办法进行弥补。
4.根据权利要求1所述的基于光电耦合器的线性电压检测方法,其特征是双闭环反馈系统由电压反馈回路和电流反馈回路组成,运算放大器小于1的电压增益由电压反馈回路设置,电压传感模块的电流传输比由电流反馈回路控制。
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