[发明专利]一种带安全校验的debug电路结构及其实现方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种带安全校验的debug电路结构及其实现方法。

背景技术

随着手持设备的支付功能和其他涉及隐私的应用越来越广泛，用户对手持设备上数据的安全性也越发关注。debug接口作为任何芯片都需要具备的调试接口，存在被非法人员用于检测用户手持设备上隐私数据的可能性。而且现在大型手持设备的应用芯片中，debug接口通常都是可以直接连接并进行debug动作探视应用芯片中的数据，现有技术还无法阻止非法的debug行为，因此，极其需要设计一种可以阻止非法debug行为的电路，其对于提高用户支付功能使用的安全性及个人隐私数据的保密性都具有重大意义。

发明内容

本发明要解决的技术问题之一，在于提供一种带安全校验的debug电路结构，其解决了当前任何人都可以对手持设备的应用芯片进行直接debug的问题，加强了手持设备的安全性，且电路耗费资源少，增加的芯片成本小。

本发明通过以下技术方案一解决技术问题之一：

技术方案一：

一种带安全校验的debug电路结构，所述debug电路结构包括debug访问开关电路、安全检查校验电路以及Efuse密钥储存模块；

所述Efuse密钥储存模块存储密钥数据；

所述安全检查校验电路通过debug接口接收用户的写动作地址以及密钥内容，并校验所述写动作地址是否是密钥配置地址以及所述密钥内容与密钥数据是否一致，然后将校验结果传送至所述debug访问开关电路；只有用户的写动作地址为密钥配置地址且密钥内容与密钥数据一致，安全检查校验电路送出校验一致的校验结果，否则，送出校验不一致的校验结果；所述安全检查校验电路从Efuse密钥储存模块读取密钥数据，将密钥数据与密钥内容进行比较，判断是否一致；

所述debug访问开关电路负责接收所述安全检查校验电路的校验结果，并根据校验结果控制debug接口与芯片内部电路是否连接。

进一步地，所述安全检查校验电路具体包括相互连接的地址检查模块、待校验密钥存储模块以及数据比较模块，所述地址检查模块与所述debug接口相连接；

所述地址检查模块负责校验用户的写动作地址是否是密钥配置地址，若是，则将所述密钥内容写入所述待校验密钥存储模块；

所述待校验密钥存储模块用于存储所述密钥内容；

所述数据比较模块分别从待校验密钥存储模块和Efuse密钥储存模块读取密钥内容和密钥数据并将密钥内容和密钥数据进行比较，判断是否一致，然后将校验结果送至所述debug访问开关电路。

本发明要解决的技术问题之二，在于提供一种带安全校验的debug电路结构的实现方法，其解决了当前任何人都可以对手持设备的应用芯片进行直接debug的问题，加强了手持设备的安全性，且电路耗费资源少，增加芯片成本小。

本发明通过以下技术方案二解决技术问题之二：

技术方案二：

一种带安全校验的debug电路结构的实现方法，包括如下步骤：

步骤1、将密钥数据写入一Efuse密钥储存模块；

步骤2、将初始值写入一安全检查校验电路，所述初始值为一个与所述密钥数据不一样的值；

步骤3、所述安全检查校验电路通过debug接口接收用户的写动作地址以及密钥内容，并校验所述写动作地址是否是密钥配置地址，若是，安全检查校验电路从所述Efuse密钥储存模块读取密钥数据，将密钥数据与密钥内容进行比较，然后将校验结果送至一debug访问开关电路；

步骤4、所述debug访问开关电路根据校验结果控制debug接口与芯片内部电路是否连接，若收到校验一致的校验结果，则将debug接口到芯片内部电路的通路接通，debug接口正常工作;若收到校验不一致的校验结果，则将debug接口到芯片内部电路的通路断开，使debug接口无法进行debug操作，非法人员无法获知密钥配置地址和密钥数据，也就无法与手持设备中的应用芯片直接debug，无法探视芯片中的数据，从而加强了手持设备的安全性以及手持设备中数据的保密性。

进一步地，所述安全检查校验电路具体包括相互连接的地址检查模块、待校验密钥存储模块以及数据比较模块，所述地址检查模块与所述debug接口相连接；

所述步骤2具体为：将初始值写入安全检查校验电路的待校验密钥存储模块，所述初始值为一个与所述密钥数据不一样的值；