[发明专利]基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法有效
申请号: | 201310072379.2 | 申请日: | 2013-03-07 |
公开(公告)号: | CN103149544A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 范亚娜;刘涛;程志光;王晓燕;刘兰荣;赵志刚 | 申请(专利权)人: | 保定天威集团有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 唐山顺诚专利事务所 13106 | 代理人: | 于文顺;喻期彪 |
地址: | 071051 河北省*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 多爱泼 斯坦 电工 钢片 损耗 测量方法 | ||
1.一种基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法,其特征在于:采用三种尺寸的爱泼斯坦(Epstein)方圈模型进行同一组被测电工钢片样品的总损耗测量;根据二级加权平均法,分别对两组爱泼斯坦方圈进行有效磁路长度的求解计算,最终得到不同磁密下对应的不同的磁路长度;同时,利用二级加权平均法实现比总损耗的计算。
2.根据权利要求1所述的基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法,其特征在于:所述的三种尺寸的爱泼斯坦方圈,长度分别为25cm、20cm及17.5cm三种尺寸的爱泼斯坦方圈。
3.根据权利要求2所述的基于多爱泼斯坦方圈的电工钢片比总损耗测量方法,其特征在于更具体的测量方法:
被测电工钢片样品长度为L,在四个空心线圈内搭接组成测试结构,角部用砝码压紧,分别在三种尺寸的爱泼斯坦(Epstein)方圈上进行同一组样品的总损耗测量,三个爱泼斯坦方圈长度尺寸分别为25cm、20cm及17.5cm;
假设长度尺寸分别为25cm和20cm的两个方圈总损耗的差值只与爱泼斯坦方圈铁轭长度差有关,产生损耗差值的铁轭区域为爱泼斯坦方圈铁轭中段区域,假设这一区域的磁通密度分布和损耗分布是均匀的,每个被测电工钢片样品的有效测量区域长度差用表示;因此,两个长度尺寸分别为25cm和20cm爱泼斯坦方圈的损耗差可以表示为:
(1)
式中,Pno——25cm方圈的总损耗,W
Psm——17.5cm方圈的总损耗,W
Pnc——25cm方圈转角处的损耗,W
Pnl——25cm方圈铁轭处的损耗,W
Psc——17.5cm方圈转角处的损耗,W
Psl——17.5cm方圈铁轭处的损耗,W
根据假设条件,得Pnc=Psc,则式(1)可以改写为
(2)
与(2)式损耗差值对应的被测电工钢片样品有效质量为
(3)
式(3)中mt为被测电工钢片样品的总质量,则25cm方圈的均匀区单位质量损耗Ploss可以表示为
(4)
与被测电工钢片样品均匀区相关的有效磁路长度为
为确定具有搭接结构的铁心的有效磁路长度,采用加权平均法,将基于铁心不同区域的比总损耗所确定的有效磁路长度做加权处理,具体方法如下:
令铁心加权处理的有效磁路长度为le,
(5)
其中,lm1 由均匀区单位质量损耗Ploss1确定,lm2 由17.5cm方圈的单位质量损耗Ploss2确定,a 和 b 为权因子,参照(5)则
(6)
(7)
令
(8)
(9)
(10)
(11)
则(6)可改写为
(12)
基于两种组合用双方圈法计算得到有效磁路长度,采用二级加权平均法,将两组方圈计算得到的有效磁路长度做二级加权处理,具体方法如下:
两种组合测得的总损耗做差,即得到(25-17.5cm)、(25-20cm);
(13)
(14)
式中,le12—— 二级加权后的有效磁路长度
le1—— (25-17.5cm)组合得到的有效磁路长度
le2——(25-20cm)组合得到的有效磁路长度
同理,二级加权可以计算均匀区比总损耗:
(15)
加权平均得到的均匀区比总损耗。
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