[发明专利]一种用于硬度测试的试样固定装置及其应用

权利要求书

1.一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：包括形状相同且尺寸相匹配的金属壳体(III)及磁场发生底座； 

磁场发生底座位于金属壳体(III)的下方，磁场发生底座接通直流电源后产生磁场； 

金属壳体(III)内具有腔体，在腔体内填充有磁场感应颗粒，磁场感应颗粒在磁场作用下相互之间产生吸力，从而固定磁场感应颗粒中的试样(V)并使其待测表面保持水平。 

2.如权利要求1所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：所述磁场发生底座包括铁芯(I)及缠绕在铁芯(I)外并与其功率相匹配的导电绕组(II)，导电绕组(II)或直接连接直流电源(VI)或通过电流调节器(VII)连接直流电源(VI)。 

3.如权利要求2所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：所述铁芯(I)由消磁较快的软铁或硅钢制作而成。 

4.如权利要求1所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：所述磁场感应颗粒为铁磁性颗粒。 

5.如权利要求4所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：所述铁磁性颗粒为铁砂。 

6.如权利要求1所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：还包括具有水平下表面的按压装置，按压装置置于试样(V)的待测表面上后，向下按压按压装置使其水平下表面紧密贴合试样(V)的待测表面，从而将试样(V)的待测表面校平。 

7.如权利要求6所述的一种用于硬度测试的试样固定装置，其特征在于：所述按压装置为阶梯形按压盖(VIII)，阶梯形按压盖(VIII)的下表面水平。 

8.一种如权利要求1所述的用于硬度测试的试样固定装置的应用方法，其特征在于：将试样(V)埋入磁场感应颗粒内，试样(V)的待测表面露出，将磁场发生底座接通直流电，磁场发生底座产生磁场，磁场感应颗粒在磁场的作用下相互之间产生吸力，从而固定磁场感应颗粒中的试样(V)并使其待测表面保持水平。 

9.如权利要求8所述的一种用于硬度测试的试样固定装置的应用方法，其特征在于：当试样(V)埋入磁场感应颗粒后，将按压装置的水平下表面对准试样(V)的待测表面向下按压试样(V)，将试样(V)的待测表面校平。 

10.如权利要求8所述的一种用于硬度测试的试样固定装置的应用方法，其特征在于：对试样(V)进行固定前，利用标准硬度块(IX)对用于硬度测试的试样固定装置进行调整校正，其步骤为：将标准硬度块(IX)埋入磁场感应颗粒内，标准硬度块(IX)的上表面露出，用按压盖使标准硬度块(IX)表面保持水平，将磁场发生底座接通直流电，磁场发生底座产生磁场，磁场感应颗粒在磁场的作用下相互之间产生吸力，从而固定磁场感应颗粒中的标准硬度块(IX)，在标准硬度块(IX)上打点，读数，调节电流，使测量值与标准硬度块标准值一致，记下此时校正电流，校正结束，待校正完毕后，再对试样(V)进行测量。