[发明专利]阵列面板检测电路结构

说明书

技术领域

本发明涉及显示器制作技术，更具体地说，涉及一种阵列面板检测电路结构。

背景技术

液晶显示器是现今最常用的显示器件，它通过阵列面板控制液晶的光学特性来实现图案的显示。阵列面板是否能正常工作做直接影像液晶显示器的性能。因此在生产液晶显示器的时候，在阵列面板完成后，都需要进行检测，以确保阵列面板的正常工作，通过该检测确定控制像素现实的薄膜晶体管是否正常运行，现有的检测是为了检测薄膜晶体管是否正常运行，一般采用短接棒布线来检测，通过从薄膜晶体管的源、漏、栅极引出信号引线，配合短接棒来检测。

例如图1为现有技术利用短接棒进行检测的示意图，通过两根短接棒，采用奇偶分开连接的方式，分别通过过孔与对应的栅极线短接相连，即第一栅极线130与第一短接棒110相连，第二栅极线140与第二短接棒120相连。而由于110位于120与140之间，此时第二栅极线140会“跨过”第一短接棒110。由于短接棒是使用栅极金属制作的，而跨线位置150仅有栅极绝缘层。在源漏极技术图形完成后的制程静电容易在该跨线位置发生静电释放，导致击穿栅极绝缘层，造成测试修补困难甚至产品损坏。

发明内容

本发明的目的在于，针对现有的阵列面板检测过程中，容易造成产品的损坏的问题，提供一种阵列面板检测电路结构，以克服上述缺陷。

本发明解决上述问题的方案是：构造一种阵列面板检测电路结构，包括纵向设置并用于控制阵列面板显示效果的第一栅极信号引线、第二栅极信号引线；横向设置并用于检测第一栅极信号引线的第一短接棒、横向设置并用于检测第二栅极信号引线的第二短接棒，且第二短接棒设置在第一短接棒的上方；用于将第一栅极信号引线连接到第一短接棒的第一检测连接片；用于将第二栅极信号引线连接到第二短接棒的第二检测连接片；第一栅极信号引线与第二栅极信号引线设置在第一短接棒的下方且与第一短接棒间设有间隔；第一检测连接片的一端与第一栅极信号引线的一端连接，另一端与第一短接棒连接；第二检测连接片的一端与第二栅极信号引线连接，另一端跨接到第二短接棒。

本发明的阵列面板检测电路结构，第一检测连接片和第二检测连接片为氧化铟锡片。

本发明的阵列面板检测电路结构，第二检测连接片的另一端跨过第一短接棒与第二短接棒连接

本发明的阵列面板检测电路结构，第一检测连接片和第二检测连接片上设置有用于将第一检测连接片和第二检测连接片连接到短接棒或栅极信号引线的过孔。

本发明的阵列面板检测电路结构，过孔与短接棒的连接处、过孔与信号引线的连接处设置有用于减少静电流过的钝化层。

本发明的阵列面板检测电路结构，信号引线从栅极引出，使用的材质为与源漏极相同的金属。

本发明构造的另一种阵列面板检测电路结构，包括纵向设置的第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线；还包括横向设置并分别对应检测第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线的第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒，第二短接棒设置在第一短接棒的上方，第三短接棒设置在第二短接棒的上方；还包括将第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线对应连接到第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒的第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片；第一信号引线、第二信号引线和第三信号引线设置在第一短接棒的下方且与第一短接棒间设有间隔；第一检测连接片的一端与第一信号引线连接，另一端与第一短接棒连接；第二检测连接片的一端与第二信号引线连接，另一端跨接到第二短接棒；第三检测连接片的一端与第三信号引线连接，另一端跨接到第三短接棒。

本发明的阵列面板检测电路结构，第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片为氧化铟锡片。

本发明的阵列面板检测电路结构，第二检测连接片的另一端跨过第一短接棒与第二短接棒连接，第三检测连接片的另一端跨过第一短接棒和第二短接棒与第三短接棒连接。

本发明的阵列面板检测电路结构，第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片上设置有用于将第一检测连接片、第二检测连接片和第三检测连接片连接到短接棒或信号引线的过孔。

本发明的阵列面板检测电路结构，过孔与短接棒的连接处、过孔与信号引线的连接处设置有用于减少静电流过的钝化层。

本发明的阵列面板检测电路结构，信号引线从源漏极引出，使用的材质为与源漏极相同的金属。