[发明专利]一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统无效

专利信息
申请号: 201310066822.5 申请日: 2013-03-04
公开(公告)号: CN103196829A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 薛庆生;王淑荣 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 波段 小型 紫外 全景 成像 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及空间光学技术领域,特别是一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统。

背景技术

紫外大气遥感是除可见、红外和微波遥感外的一种探测大气痕量气体的有效手段,根据观测方式的不同,紫外大气遥感可分为天底、临边和掩日/月三种方式,临边探测方式不仅空间覆盖范围大,而且垂直分辨率高,因此受到科学家的青睐。美国为其业务气象卫星系统研制了大气臭氧制图和廓线仪(OMPS)等紫外临边探测仪,欧空局为其气象卫星系统研制了大气制图扫描成像吸收分光计(SCIAMACHY)等紫外临边探测仪。国内,2008年,中科院长春光机所和中科院大气物理所合作率先开展紫外临边探测技术研究,在国家863项目的支持下,已成功研制了紫外临边成像光谱仪原理样机。然而,目前国内外现有的紫外临边探测仪器都一次只能对地球临边大气的某一个方位进行探测,然而,同一太阳天顶角下,不同方位的临边大气的光谱辐亮度存在较大的差异,显然只能对地球临边大气的某一方位进行探测的现有的紫外临边探测仪不能满足空间大气遥感的应用要求。空间大气遥感迫切需要360°全方位地球临边大气探测。

发明内容

本发明为解决现有探测仪无法实现360°全方位地球临边大气探测的问题,提供一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统。

一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统,该系统包括三个紫外全景成像仪,每个紫外全景成像仪由紫外全景环形透镜、中继透镜组、窄带滤光片、CCD探测器和电子学系统组成;地球临边大气辅射光经过紫外全景环形透镜成一虚像,中继透镜组将紫外全景环形透镜所成的虚像放大后成像到CCD探测器上,所述窄带滤光片设置在中继透镜组与CCD探测器之间,通过窄带滤光片选择探测的紫外波段,电子学系统对CCD探测器上的成像进行处理。

本发明的工作原理:本发明所述的三波段小型紫外全景临边成像仪系统,利用紫外全景成像技术实现360°全方位地球临边大气探测,三个波段构成三个波长,提高了探测和反演的精度。每个紫外全景成像仪利用一个窄带滤光片选择一个探测波段。每个紫外全景成像仪都由紫外全景环形透镜、中继透镜组、窄带滤光片、CCD探测器和电子学系统组成。地球临边大气场景先经过紫外全景环形透镜成一虚像,中继透镜组把紫外环形透镜所成的虚像以恰当的放大倍率成像到CCD探测器上,在CCD探测器上得到一个360°的环形图像,环形图像的径向方向对应临边高度方向,径向信号的强弱反应了O3、NO2等大气痕量气体随临边高度变化的信息。环形图像上的每个同心圆为同一临边高度不同方位的地球临边大气所成的像,同心圆上信号的强弱代表了O3、NO2等大气痕量气体在同一临边高度不同方位上的分布信息。利用获得的环形图像信息并结合反演算法,可以反演O3、NO2等大气痕量气体全方位的时空分布,进而为大气科学、地球物理研究及天气预报等提供服务。

附图说明

图1为本发明的一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统的结构示意图;

图2为本发明的一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统中紫外全景环形透镜的结构示意图;

图中:1、紫外全景环形透镜,2、中继透镜组,3、窄带滤光片,4、CCD探测器,5、电子学系统,a、入射面,b、第一反射面,c、第二反射面,d、出射面。

具体实施方式

具体实施方式一,结合图1和图2说明本实施方式,一种三波段小型紫外全景临边成像仪系统,包括三个紫外全景成像仪,其中每个紫外全景成像仪由紫外全景环形透镜1、中继透镜组2、窄带滤光片3、CCD探测器4和电子学系统组成5。目标场景先经紫外全景环形透镜1成一虚像,中继透镜组2把紫外环形透镜1所成的虚像以恰当的放大倍率成像到CCD探测器4上,窄带滤光片3放置在中继透镜组2与CCD探测器4之间,用来选择要探测的紫外波段,CCD探测器4与电子学系统5相连接。

三个紫外全景成像仪采用不同的窄带滤光片,其余组件相同。本发明利用紫外全景成像技术实现对地球临边大气进行360°全方位探测,并利用三种窄带滤光片选取三个紫外波段,构成三组波长对同时探测,提高了大气痕量气体的探测和反演精度,适用于航天大气遥感领域。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310066822.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top