[发明专利]偏振态层析显微成像装置及方法

权利要求书

1.偏振态层析显微成像装置，其特征在于，包括：激光器（1）、偏振发生器（2）、半反半透镜（3）、显微物镜（4）、第一分束器（7）、第二分束器（8）、第三分束器（18）、四分之一波片（9）、第一斯托克斯系统（100）、第二斯托克斯系统（200）、第三斯托克斯系统（300）、第四斯托克斯系统（400）、数据采集模块（27）、计算机（28）、驱动模块（29）以及用于安装被测样品（5）的X-Y扫描平台（6）；

所述激光器（1）发出的激光经偏振发生器（2）后得到偏振激光并入射到半反半透镜（3），从半反半透镜（3）反射的偏振激光通过显微物镜（4）聚焦到被测样品（5）上并发生反射，从被测样品（5）反射的偏振激光依次通过显微物镜（4）及半反半透镜（3）入射到第一分束器（7）上，并分成光强相等的第一光束（Ⅰ）及第二光束（Ⅱ），所述第一光束（Ⅰ）入射到第二分束器（8）并分成光强相等的第三光束（Ⅲ）及第四光束（Ⅳ），所述第二光束（Ⅱ）入射到第三分束器（18）并分成光强相等的第五光束（Ⅴ）及第六光束（Ⅵ）；

所述第三光束（Ⅲ）通过四分之一波片（9）入射到第一斯托克斯系统（100），所述第四光束（Ⅳ）入射到第二斯托克斯系统（200），所述第五光束（Ⅴ）入射到第三斯托克斯系统（300），所述第六光束（Ⅵ）入射到第四斯托克斯系统（400），所述第一斯托克斯系统（100）、第二斯托克斯系统（200）、第三斯托克斯系统（300）及第四斯托克斯系统（400）均与数据采集模块（27）连接，所述数据采集模块（27）与计算机（28）连接，所述计算机（28）通过驱动模块（29）与X-Y扫描平台（6）连接。

2.根据权利要求1所述的偏振态层析显微成像装置，其特征在于，所述第一斯托克斯系统（100）包括第一偏振分析器（10）、第一聚光镜（11）、第一针孔（12）及第一光电探测器（13），所述第一偏振分析器（10）、第一聚光镜（11）、第一针孔（12）及第一光电探测器（13）沿光路前进方向依次设置且处于同一光轴上，所述第一针孔（12）位于第一聚光镜（11）的焦点处；

所述第二斯托克斯系统（200）包括第二偏振分析器（14）、第二聚光镜（15）、第二针孔（16）及第二光电探测器（17），所述第二偏振分析器（14）、第二聚光镜（15）、第二针孔（16）及第二光电探测器（17）沿光路前进方向依次设置且处于同一光轴上，所述第二针孔（16）位于第二聚光镜（15）的焦点处；

所述第三斯托克斯系统（300）包括第三偏振分析器（19）、第三聚光镜（20）、第三针孔（21）及第三光电探测器（22），所述第三偏振分析器（19）、第三聚光镜（20）、第三针孔（21）及第三光电探测器（22）沿光路前进方向依次设置且处于同一光轴上，所述第三针孔（21）位于第三聚光镜（20）的焦点处；

所述第四斯托克斯系统（400）包括第四偏振分析器（23）、第四聚光镜（24）、第四针孔（25）及第四光电探测器（26），所述第四偏振分析器（23）、第四聚光镜（24）、第四针孔（25）及第四光电探测器（26）沿光路前进方向依次设置且处于同一光轴上，所述第四针孔（25）位于第四聚光镜（24）的焦点处。