[发明专利]感应加热烹调器

说明书

技术领域

本发明涉及具备作为锅温度检测机构的红外线传感器的感应加热烹调器。背景技术

感应加热烹调器为如下结构，即：在由晶体玻璃等构成的顶板下方设置同心圆状的感应加热线圈（以下简称为“加热线圈”），使高频电流流过该加热线圈，利用所产生的磁场在载置于顶板上的作为烹调容器的锅底引起涡电流，并利用该焦耳热对作为烹调容器的锅直接加热。

作为感应加热烹调器的锅温检测方法，多使用利用红外线传感器隔着顶板来观测从锅底辐射的红外线并检测温度的方法。该红外线传感器配置于加热线圈中心空隙附近的下方，利用红外线传感器隔着顶板来检测从锅底辐射的红外线，并根据其输出对驱动加热线圈的逆变器电路输出进行控制来调整烹调温度。

利用红外线传感器进行温度检测的情况的课题是，会受到被测定物（烹调锅）的红外线辐射率的影响。锅底的红外线辐射率很大程度上取决于锅底的材质、颜色、加工状态（锅底的涂装、刻印、发纹加工、环形加工、打入加工、凹凸等）。另外，即使是相同的锅，红外线辐射率也会因附着在锅底的食用油等污垢而不同。即，即使是相同温度、相同材质的锅底，若颜色、加工或者脏污状态、凹凸不同，则辐射的红外能量不同，故由红外线传感器接收的红外能量也不同，从而会检测出不同的温度。因此，需要对因锅底的不同而导致红外线传感器进行的温度检测不同的情况进行修正的机构。

作为解决该课题的方法，存在专利文献1、2、3所列举的方法。例如，专利文献1的技术为：具备接收对放置在顶板上的被加热物（锅）投光的光源和接收来自被加热物的反射光的受光传感器，利用根据受光传感器的输出而换算出的被加热物的辐射率来对红外线传感器的输出进行修正并进行温度检测。由此，成为对被加热物（锅）的辐射率不产生影响的准确的锅温度检测技术。

另外，专利文献2在专利文献1的基础上，将相对的发光机构与受光机构以与载置锅的顶板具有角度a的方式配置。专利文献3在上述的基础上具备多个配置于受光机构的周围的发光单元。提出了如下温度检测机构，即：利用受光机构以与多个发光机构的发光同步的方式接收锅对多个发光机构依次发出的光线的反射光，根据该输出得到锅底面的多个位置的反射率并将其换算成辐射率，并利用该辐射率对红外线传感器的输出进行修正来进行温度检测。专利文献4提出了如下机构，即：具备从顶板的端面入射近红外线的发光机构、和设置于与上述发光机构面对的端面的检测来自锅的底面的反射光的强度的反射传感器，根据反射传感器的输出得到锅底面的辐射率，并利用该辐射率对红外线传感器的输出进行修正来进行温度检测。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平11-225881号公报

专利文献2：日本特开2004-241220号公报

专利文献3：日本特开2006-221950号公报

专利文献4：日本特开2006-260940号公报

发明内容

在专利文献1中，作为具体的发光机构而提出了单一的红外线LED或者激光等光源，作为受光机构而提出了单一的红外线光电晶体管，而且，公开了这些机构的使用波长、基于光学带通滤波器的分光机构。但是，如后所述，在使用单一的红外线LED和单一的红外线光电晶体管的情况下，很难准确地检测锅的反射率、即辐射率。另外，没有言及红外线LED或者红外线光电晶体管的温度特性以及反射率检测的温度特性。因此，当周围环境温度变化时，反射率检测值变化，红外线传感器的输出修正也变化。因此，存在即使利用该反射率（辐射率=1-反射率）对温度检测红外线传感器输出进行修正来进行温度检测也无法得到准确的结果的课题。

专利文献2～4中也没有言及红外线LED或者红外线光电晶体管的温度特性以及反射率检测的温度特性，因此，存在当周围环境温度变化时锅温度的检测精度下降的课题。

本发明的目的在于提供如下感应加热烹调器，即：在作为红外线传感器而使用热电堆的锅温度检测机构中，能够稳定且高精度地检测锅温度而不受放置于顶板上的锅底的状态亦即凹凸、翘曲、污垢还有材质、颜色、加工状态的限制，或机身内温度在烹调过程中变化，并且感应加热烹调器的安全性、易用性有所提高。