[发明专利]基于STM32的智能四探针测试仪及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电学数据测试装置，特别涉及一种基于STM32的智能四探针测试仪及其测试方法。

 

背景技术

四探针测试仪的测试理论已经相当成熟，依据的理论是范德堡原理，采用的是直流四探针测试法，将四根金属探针排成一条直线，利用恒流源给外面的1，4探针通过电流，再从2，3探针上测量出电位差，经过运算得到材料的电阻率(ρ=CV/I，其中C为修正系数)。

将位于同一直线上的4个探针置于一平坦的样品（其尺寸相对于四探针，可被视为无穷大）上，并施加直流电流I于外侧的两个探针上，然后在中间两个探针上用高精度数字电压表测量电压V2,3，则检测位置的电阻率ρ（Ω·cm）为：ρ=CV/I，其中，C为修正系数（cm）。

传统直流四探针测试仪采用51单片机作为控制系统，采用LCD12864液晶芯片作为输出显示。数据采集与处理电路以单片机为核心，通过差分放大电路完成对电压信号放大与滤波后送到单片机，利用专用AD转换芯片或者单片机内部集成的ADC进行A/D转换；再通过程序判断并切换测量量程，直到测量量程合适，再进行数字滤波与运算；最后将电阻、电阻率、方块电阻与选用的量程显示在LCD屏上。传统的51单片机为8为处理器，处理速度慢、处理能力弱、储存容量小；LCD12864是单色的液晶显示屏，51单片机内部没有LCD控制器，大多要进行外扩。

 

发明内容

本发明针对现有技术存在的上述不足，提供一种基于STM32的智能四探针测试仪。该仪器硬件电路简单，有自动切换和自主选择量程的双重功能，同时可以自校准，稳定性好，能和PC机通讯，具有较高的智能水平与推广的价值。

本发明针对现有技术存在的上述不足，提供一种基于STM32的智能四探针测试仪的测试方法。基于STM32的智能四探针测试仪，实现了自动切换和自主选择量程的双重功能，同时可以自校准，稳定性好。

本发明通过以下技术方案实现：

一种基于STM32的智能四探针测试仪，包括：

四个探针，用以接触被测物并采集数据；

模数转换模块，连接四个探针，接收所述四个探针采集的数据，并将接收到的数据转换为数字量；

STM32内核，连接模数转换模块，根据模数转换模块转换后的数据判断并切换量程，并进行数字滤波与运算；

I/O设备，连接STM32内核。

较佳的，模数转换模块为AD7135芯片。

较佳的，STM32内核还包括手动设置量程，并进行数字滤波与运算。

较佳的，I/O设备包括：键盘、彩色显示器。

较佳的，还包括测试架，STM32内核设置在测试架上。

一种基于STM32的智能四探针测试仪的测试方法，包括以下步骤：

S1、四个探针接触被测物并采集数据；

S2、模数转换模块将采集到的数据转换为数字量；

S3、STM32内核根据转换后的数据判断量程是否合适，是则执行S4，否则调整量程，并回到S2；

S4、STM32内核处理数据；

S5、输出结果并停止采样。

 

附图说明

图1为本发明基于STM32的智能四探针测试仪一实施例的框图；

图2为本发明基于STM32的智能四探针测试仪的测试方法的流程图。

 

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作详细说明，本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。

请参考图1，本发明提供的基于STM32的智能四探针测试仪的一实施例。包括：四个探针，用以接触被测物并采集数据；模数转换模块，连接四个探针，接收四个探针采集的数据，并将接收到的数据转换为数字量；STM32内核1，连接模数转换模块2，根据模数转换模块2转换后的数据判断并切换量程，并进行数字滤波与运算；I/O设备，连接STM32内核。