[发明专利]面向通用设计结构发掘的装配模型定量描述方法有效
申请号: | 201310059409.6 | 申请日: | 2013-02-25 |
公开(公告)号: | CN103136424A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 张杰;徐志佳;李原;余剑峰;王延平 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面向 通用 设计 结构 发掘 装配 模型 定量 描述 方法 | ||
1.一种面向通用设计结构发掘的装配模型定量描述方法,其特征在于:采用以下步骤:
步骤1:根据装配模型中的零件生成广义面邻接图的节点集V和边集E,其中节点集V={v1,v2,...}中的元素vi对应于装配模型中的一个零件,边集E={e1,e2,...}中的元素ei对应于某两个节点之间的装配约束关系;
步骤2:建立装配模型中零件的各个几何面的几何元素信息量化模型,对于几何面f,其几何元素信息由以下公式确定:
其中,f为当前几何面,fi为f的第i个邻接面,nl为f的邻接面的数量;εi=(T(f)T(fi)/θ(f,fi)),T(f)是表示面类型的整数:f为平面时对应T(f)=1,f为圆柱面时对应T(f)=2,f为圆锥面时对应T(f)=3,f为球面时对应T(f)=4,f为圆环面时对应T(f)=5,f为自由曲面时对应T(f)=6;θ(f,fi)代表面f和fi之间的二分角,p(f)和pe(f,fi)是描述几何面和几何边的形状参数,px,py,pe,x,pe,y分别表示相应形状参数的x分量和y分量;
步骤3:根据步骤2得到的装配模型中各零件的各个几何面的几何元素信息量化模型,建立单个零件模型的量化模型:
其中p表示零件,x(f)和y(f)由步骤2计算,nf为零件模型p中几何面的总数;
步骤4:根据步骤2得到的装配模型中各零件的各个几何面的几何元素信息量化模
型,建立两个零件之间装配约束的量化模型:
其中fi,k和fj,k表示零件pi、pj之间相互配合的第k对几何面;T(fi,fj)是几何面的配合约束类型,“相合”约束对应T(fi,fj)=1,“接触”约束对应T(fi,fj)=2,“偏移”约束对应T(fi,fj)=3,“角度”约束对应T(fi,fj)=4;ne为两个零件pi、pj间相互配合的几何面的对数;x(f)和y(f)由步骤2计算;
步骤5:根据步骤3得到的单个零件模型的量化模型和步骤4得到的两个零件之间装配约束的量化模型,建立节点集V中各个元素的量化模型:
其中p为当前零件模型,pi为与当前零件配合的第i个零件模型,np为配合零件的数量;x(p)和y(p)由步骤3计算;x(p,pi)和y(p,pi)由步骤4计算;
步骤6:将步骤5得到的节点集V中各个元素的量化模型映射到一个2维坐标系统中,得到装配模型的广义面邻接图。
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