[发明专利]飞针测试机

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种印制电路板测试装置，特别是涉及一种飞针测试机。

【背景技术】

飞针测试机是在X轴与Y轴上安装由电机驱动的可独立快速移动的探针，利用探针在Z轴方向的可控移动和PCB板的焊点进行接触，并进行电气测量的设备。由于飞针测试机的功能要求，其Y轴的两端一般分别架设在两个X轴上，其跨距比较大，由两个X轴上的电机驱动（双驱）或者由单个X轴的电机驱动（单驱）。为了提高测试效率，飞针测试机一般都有多个探针，X-Y轴也随之增多。正是飞针测试机的轴数较多，Y轴采用双驱的成本很高，再加上安装空间的限制，多个Y轴一般需要共用X轴（即一个X轴上安装有多个Y轴），Y轴采用双驱的可行性受到很大的制约。随着PCB板的线宽及线距越来越小，对飞针测试机的运动精度要求越来越高，而传统飞针测试机的运动精度越来越不能满足要求。对飞针测试机运动精度影响最大的是其采用单驱的X-Y轴结构，因此，采用单驱的X-Y轴的运动精度变得越来越重要。

【发明内容】

鉴于上述状况，有必要提供一种成本较低、运动精度较高的飞针测试机。

一种飞针测试机，其包括：

基体；

两个X轴，设于所述基体上，并且平行相对设置，每个所述X轴包括第一导轨、第一电机及第一丝杆，所述第一丝杆与所述第一导轨平行相对设置，所述两个第一电机分别位于所述两个第一丝杆相对远离的一端，使所述两个第一电机交叉相对设置，并且每个第一电机的驱动轴与所述第一丝杆共轴连接；

两个Y轴，与所述X轴连接，每个所述Y轴的两端分别设于所述两个X轴上，并且每个所述Y轴包括第二导轨、两个连接板及两个第一滑块，所述第二导轨的两端分别与所述两个连接板固定连接，所述两个第一滑块分别固定于所述两个连接板与所述第二导轨相对的表面上，并且所述第一滑块沿所述第一导轨可滑动，所述第一丝杆穿过所述第一滑块；及

两个Z轴，分别设于所述两个Y轴上，并且所述Z轴沿所述第二导轨可滑动；

其中，每个所述Y轴靠近所述第一电机的一个所述第一滑块设有与第一丝杆相螺合的螺孔，另外一个所述第一滑块设有供所述第一丝杆穿过的导向孔；所述第一电机驱动所述第一丝杆转动，使靠近所述第一电机的所述第一滑块沿所述第一导轨滑动。

上述飞针测试机采用的X轴采用一个第一电机驱动单个Y轴，形成单驱结构，从而避免采用成本较高的双驱结构，进而降低成本；同时，每个Y轴靠近X轴的第一电机的第一滑块设有与第一丝杆相螺合的螺孔，另外一个第一滑块设有供所述第一丝杆穿过的导向孔，使得每个Y轴一端起驱动及导向作用，另一端起导向作用，从而提高Y轴的驱动精度，进而提高飞针测试机的运动精度。因此，上述飞针测试机成本较低、并且运动精度较高。

在其中一个实施例中，所述Y轴还包括第二丝杆及第二电机，所述第二丝杆与所述第二导轨平行相对设置，所述第二电机安装于其中一个所述连接板上，并且所述第二电机的驱动轴与所述第二丝杆共轴连接，所述第二丝杆带动所述Z轴沿所述第二导轨滑动。

在其中一个实施例中，每个所述第一滑块由一对滑块组成，所述第一丝杆穿过所述一对滑块，并且所述一对滑块固定在所述连接板上。

在其中一个实施例中，所述Y轴靠近所述第一电机的一端为主动端，远离所述第一电机的一端为从动端，所述Y轴的质心靠近所述主动端。

在其中一个实施例中，所述Y轴的质心与所述主动端的距离为80~100毫米。

在其中一个实施例中，所述Y轴的两端相对所述X轴的摩擦系数小于0.01，并且所述Y轴的两端相对所述X轴的摩擦系数相等。

在其中一个实施例中，所述Y轴两端的连接刚度为1千万牛顿每平方米以上。

在其中一个实施例中，所述连接板由复合材料制成。

在其中一个实施例中，所述基体为天然花岗石。

在其中一个实施例中，所述X轴与所述Y轴垂直相交，所述Z轴垂直于所述Y轴与所述X轴。

【附图说明】

图1为本发明实施方式的飞针测试机的结构示意图；

图2为图1所示的飞针测试机的左侧Y轴的结构示意图；

图3为图1所示的飞针测试机的右侧Y轴的结构示意图；

图4为图1所示的飞针测试机的Y轴的仿真流程图。

【具体实施方式】