[发明专利]通过分析源代码来分析应用程序的方法和装置无效
申请号: | 201310057122.X | 申请日: | 2013-02-22 |
公开(公告)号: | CN103294519A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 任东佑;李沅锡;崔秀铉 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F9/45 | 分类号: | G06F9/45 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 分析 源代码 应用程序 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及源代码的分析。更具体地,本发明涉及通过分析源代码来分析应用程序的方法和装置。
背景技术
对于一般应用程序(是其源代码不开放和/或不可访问的应用程序),为了确定该一般应用程序所支持的功能、特征、操作和其他方面,用户依赖于由开发者或发行者写入的数据项。也就是说,由于一般应用程序是以二进制码的形式提供的,所以为了确定应用程序的特征和功能,用户只能依靠开发者提供的信息。
因此,用户可能无法在使用应用程序之前确定应用程序的特定技术特征,并且可能无法有效地搜索具有期望功能的应用程序。即使对于源代码开放和/或可访问的应用程序(例如,web应用程序),为了降低开放源代码的大小和可读性,开放源代码以如下状态分发:可以从开放源代码的变量名和/或其他部分中去除具有语法和/或口语含义的元素。因此,尽管应用程序的源代码可以是开放的和/或可访问的,用户也可能难以对源代码予以查明和分类。
因此,需要一种通过分析源代码来分析应用程序的方法和装置。
发明内容
本发明的方面在于解决至少上述问题和/或缺点并提供至少下述优点。因此,本发明的方面在于提供一种通过分析源代码来分析应用程序的方法和装置。
本发明的另一方面在于提供一种方法和装置,对应用程序中开放的源代码进行分析并对相应应用程序所提供的功能进行分析。
本发明的另一方面在于提供一种方法和装置,即使在源代码包含了其语法含义被去除的元素的情况下,也能够基于标准组(例如,万维网联盟(W3C)和Khronos组织)中定义的标准应用编程接口(API)的名称、常用的开放API(例如,Goop Map API和Faceboook API)、常用的用户接口框架(例如,jQuery和Sencha touch),根据是否会使用相应的API来分析是否使用了任何技术和/或功能。
根据本发明的一方面,提供了一种对应用程序中的源代码进行分析的方法。所述方法包括:根据应用程序中的源代码来分析应用程序;确定应用程序中使用的应用程序配置信息;以及根据所确定的应用程序配置信息来分类和输出应用程序配置信息。
根据本发明的另一方面,提供了一种用于对应用程序中的源代码进行分析的装置。所述装置包括:控制器,用于根据应用程序中的源代码来分析应用程序,确定应用程序中使用的应用程序配置信息,以及根据所确定的应用程序配置信息来分类和输出应用程序配置信息;以及显示单元,用于显示控制器的输出。
以下详细描述结合附图公开了本发明的示例实施例,通过以下详细描述,本领域技术人员将更清楚本发明的其他方面、优点和突出的特征。
附图说明
结合附图,根据以下详细描述,本发明的特定示例实施例的上述和其他方面、特征以及优点将更清楚,附图中:
图1是示出了根据本发明示例实施例的用于分析源代码的装置的框图;
图2是示出了根据本发明示例实施例的用于分析源代码的装置的框图;
图3是示出了根据本发明示例实施例的用于分析源代码的装置的框图;
图4是示出了根据本发明示例实施例的用于分析源代码的装置的操作过程的流程图;
图5是示出了根据本发明示例实施例的用于分析源代码的装置的框图;
图6A和6B示出了根据本发明示例实施例的识别数据的过程;以及
图7示出了根据本发明示例实施例的数据库中的应用编程接口(API)类别。
贯穿附图,应注意相似的附图标记用于表示相同或相似的元素、特征和结构。
具体实施方式
参考附图的以下描述用于帮助全面理解由权利要求及其等价物限定的本发明的示例实施例。这种描述包括各种特定细节以帮助理解,但是这些细节仅被看作是示例性的。因此,本领域普通技术人员将了解,在不脱离本发明目的范围和精神的前提下,可以对本文描述的实施例做出各种变型和修改。此外,为了清楚和简要,省略了对公知功能和结构的描述。
以下描述和权利要求中使用的术语和单词不限于其书面含义,而是仅仅是被发明人用于使能清楚而一致地理解本发明。因此,本领域技术人员应该清楚,对于本发明示例性实施例的以下描述仅用于说明,而不用于限制由所附权利要求及其等价物限定的发明。
应理解,除非上下文明确指出,否则单数形式的“一”、“一种”和“该”包括复数对象。因此,例如对“组件表面”的引述包括对一个或多个这种表面的引述。
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